2.可同時檢測熱導(dǎo)系數(shù)(Thermal Conductivity)、熱擴散(Thermal Diffusivity)、熱容(Heat Capacity)。
3.從絕緣材料到高散熱材料都可以檢測,是目前應(yīng)用面及檢測應(yīng)用面泛的熱導(dǎo)系數(shù)儀
4.可依客戶需要增加各種測試模塊,進(jìn)行軟件升級。
5.目前Hot Disk提供五種測試模塊︰Standard測試模塊、Thin Film測試模塊、Slab測試模塊、Anisotropy測試模塊以及Specific Heat測試模塊。
6.可對導(dǎo)熱性能極低到*的各種不同類型的材料進(jìn)行測試。
項目 | 描述 |
---|---|
量測項目 | 可同時測得熱導(dǎo)系數(shù)(Thermal Conductivity, W/mK), 熱擴散(Thermal Diffusivity, mm2/s)與熱容(Specific Heat, J/m3℃), 并可由比熱量測模式求得比熱(Specific Heat Capacity, /kg℃)。 |
量測范圍 | 0.01 to 500 W/m/K |
模式 | 標(biāo)準(zhǔn)模式Standard Method |
選配模式 | - 薄膜模式(Thin Film Method) - 高熱傳片狀模式(Slab Method) - 異方向性模式(Anisotorpic Method) - 比熱模式(Cp Method) |
量測溫度 | -50 °C to 750 °C |
精密度 | 5%以內(nèi) |
測試時間 | 1~2分鐘內(nèi)即可完成測試 |
樣品尺寸 | 量測局部特性:Small Sensor-半徑0.49mm 量測整體特性:Large Sensor-半徑60mm |
樣品種類 | 固體,液體,粉末,膏狀,膠狀皆可量測 A. 塊狀樣品 B. 薄膜樣品(20micrometer~600micrometer) |
儀器特色 | A. 采非破壞性樣品測試方法 B. 不需輸入比熱(Cp)及密度(D)即可量測熱導(dǎo)系數(shù) C 不需裁減樣品即可依樣品大小選取適當(dāng)?shù)膫鞲衅?br>D. 可擴充性:可擴充由軟件控溫、,控制高溫爐體及低溫系統(tǒng)的測試溫度及取點 |
針對高分子材料中熱界面材料的散熱特性進(jìn)行材質(zhì)的特性分析,例如,
(1) 散熱膠Thermal Adhesive
(2) 散熱膏Thermal Greases
(3) 熱膠帶Adhesive Tapes
(4) 散熱片Thermal Pad
等材料的開發(fā)應(yīng)用
? 金屬材料(HD)
具高熱導(dǎo)特性的材料,例如金、銀、鋁等經(jīng)常用于作為材質(zhì)的熱交換材料的介質(zhì),利用量測材質(zhì)的熱傳導(dǎo)系數(shù)、熱擴散系數(shù)及比熱分析,開發(fā)高熱導(dǎo)散熱效能的材料,例如,
(1) 熱管(Heat Pipe)
(2) 散熱片(Heat Sink)
(3) 合金的開發(fā)應(yīng)用
等材料的開發(fā)應(yīng)用
? 陶瓷材料(HD)
陶瓷、玻璃、硅晶圓等廣泛的應(yīng)用在各種領(lǐng)域中包括電子、光電、建筑等,利用量測材料的熱傳導(dǎo)系數(shù)、熱擴散系數(shù)、比熱等熱特性,能有效的開發(fā)依不同特性需求的產(chǎn)品,例如高散熱特性的MLCC等
? 復(fù)合材料(HD)
例如電子光電使用的印刷電路板、封裝樹脂等復(fù)合材料中的熱傳導(dǎo)特性,可利用量測材料的熱傳導(dǎo)系數(shù)、熱擴散系數(shù)、比熱等熱特性加以分析
? 奈米材料(HD)
熱交換材料的開發(fā)應(yīng)用,例如奈米水溶液、冷凍劑( refrigerant)的熱傳導(dǎo)散熱特性分析
? 建筑材料(HD)
利用量測材料的熱傳導(dǎo)系數(shù)、熱擴散系數(shù)、比熱等熱特性,應(yīng)用于建材中的隔熱材料、散熱建材的開發(fā)
? 其他(HD)
(1) 航天材料的開發(fā) : 除了材料的熱傳導(dǎo)系數(shù)、熱擴散系數(shù)、比熱等熱特性,另可針對航天材料中異方向性材料特性進(jìn)行研究開發(fā)
(2) 薄膜材料的應(yīng)用 : 針對一般熱導(dǎo)系數(shù)儀不容易量測的薄膜材料,Hot Disk可以進(jìn)行快速簡便的分析