公司介紹：

NTT-AT有著多年的X射線、極紫外光學(xué)配件的研發(fā)與銷售經(jīng)驗(yàn)。在范圍內(nèi)，通過與眾多來自同步輻射科學(xué)，阿秒科學(xué)，高強(qiáng)度物理學(xué)等領(lǐng)域的科學(xué)研究者開展緊密合作，積累了大量*的設(shè)計(jì)與制造技術(shù)，其產(chǎn)品在業(yè)內(nèi)享有很高的評價(jià)。NTT-AT提供的菲涅爾波帶片有著高分辨率，高聚光效率等特點(diǎn)，適合被各種輻射光設(shè)施使用。另外，分辨率測試卡被當(dāng)作業(yè)界的標(biāo)準(zhǔn)。不只是學(xué)術(shù)研究，在X射線的檢查裝置開發(fā)現(xiàn)場也被廣泛使用。XUV鏡片，XUV濾波片不僅對阿秒科學(xué)有著幫助，對下一代的光刻研究也有這重要作用。NTT-AT將在XUV,EUV, X線領(lǐng)域給予客戶在研發(fā)上的幫助。

產(chǎn)品介紹：

用于UV和VUV光電子能譜應(yīng)用的聚焦透鏡 。 所 有 標(biāo) 準(zhǔn) 和 定 制 的 透 鏡 都 能 實(shí) 現(xiàn)< 5 μ m 角 分 辨 光 電 子 能 譜 實(shí) 驗(yàn)（ ARPES）。

特點(diǎn)：

• 粒徑為5亞微米的角分辨光電子能譜（ARPES）實(shí)驗(yàn)的必要組件。

• 可提供標(biāo)準(zhǔn)和定制設(shè)計(jì)。

• 電 子 能 譜 實(shí) 驗(yàn)（ ARPES）。