公司介紹：
美國XOS提供專用X射線整機(jī)分析儀器的公司。公司可以提供元素分析解決方案，以提高石油，消費(fèi)品，環(huán)境測(cè)評(píng)行業(yè)的公共安全和客戶效率。 產(chǎn)品涵蓋針對(duì)不用應(yīng)用行業(yè)的X射線熒光分析設(shè)備，同時(shí)包含高亮的微焦點(diǎn)X射線源、多毛細(xì)管X透鏡和雙曲彎晶聚焦鏡等的X射線部件。
產(chǎn)品介紹：
根據(jù)客戶需求提供定制多毛細(xì)管x射線光學(xué)解決方案。
多毛細(xì)管準(zhǔn)直透鏡器件 將高度發(fā)散的 X 光束轉(zhuǎn)換成低發(fā)散的準(zhǔn)平行光束。這些透鏡器件主要應(yīng)用于 X 射線衍射 (XRD) 和波長(zhǎng)色散譜 (WDS)。
多毛細(xì)管聚焦透鏡器件 從 X 射線源收集 X 射線的大立體角，并將射線聚焦為小至 10 µm 的光斑。獲得的 X 射線通量密度比用常規(guī)針孔準(zhǔn)直器獲得的高幾個(gè)數(shù)量級(jí)。這些透鏡器件的主要應(yīng)用是微量 X 射線熒光 (XRF) 分析，廣泛用于薄膜和電鍍分析、貴金屬評(píng)估、合金測(cè)量和電路板涂層監(jiān)測(cè)。該透鏡器件還可用于在諸如共焦 XRF 分析和超導(dǎo)能量色散 X 射線光譜儀等應(yīng)用中進(jìn)行檢測(cè)。使用多毛細(xì)管聚焦透鏡器件將顯著提高檢測(cè)靈敏度，并允許使用低功率 X 射線管實(shí)現(xiàn)高性能。微米級(jí)空間分辨率使之可應(yīng)用于電子和貴金屬小特性評(píng)估。多毛細(xì)管透鏡器件提供 100x-10,000x 的增益，輸出焦點(diǎn)可小至 10 µm。
特性
來自微米級(jí)光斑的量級(jí)通量增益
? 與緊湊型低功率電源集成，可提供相當(dāng)于旋轉(zhuǎn)陽極源的通量
? 光譜帶寬較寬：50 eV - 50 KeV
? 點(diǎn)對(duì)點(diǎn)會(huì)聚光束
? 點(diǎn)對(duì)平行光束
? 可定制設(shè)計(jì)機(jī)殼
優(yōu)勢(shì)
? *的通量密度
? 提高了空間分辨率
? 非常適合分析形狀不規(guī)則、未經(jīng)制備或低阻抗的樣品
優(yōu)于電子探針 X 射線分析：
? 增強(qiáng)檢測(cè)靈敏度
? 無需特殊樣品制備
? 在空氣中操作
Focusing Optics |
Applications include micro-XRF for elemental mapping, plating thickness and fine feature analysis. | |||||||
Working distance (mm) | 2 | 4 | 9 | 20 | 50 | 100 | 200 | |
Focal spot size* (µm, FWHM, 17.4keV) |
7 |
15 |
25 |
45 |
100 |
180 |
300 | |
Intensity gain* (vs а plnhole collimator of same size, 100mm fгom the source) |
6000 |
4500 |
3500 |
2000 |
800 |
300 |
120 | |
Note: *With а 100μm X-ray source.
Half-focusing Optics (XRF/XAS) | Applications include micro XRF, micro XAS, and confocal XRF. | |||||
Working distance (mm) | 2 | 4 | 9 | 20 | 50 | |
Focal spot size* (µm, FWHM, 17.4keV) |
7 |
15 |
25 |
45 |
100 | |
Intensity gain* (vs a pinhole collimator of same size) |
850 |
550 |
400 |
200 |
80 | |
Note: *With an incident beam of 2mm in diameter and a divergent angle of <0.5mrad
Collimating/Parallel Beam Optics (XRD/WDS/XRF) |
Applications include powder XRD, texture and stress analysis, WDS and confocal XRF. | ||||||||
Output beam diameter (mm) | 0.5 | 1 | 2 | 3 | 4 | 6 | 10 | 15 | |
Intensity gain* | 12 | 45 | 130 | 250 | 370 | 470 | 680 | 850 | |
Note: *With а 50μm X-ray source at 8keV, The lFD of the optics is 18mm and the output divergent angle is 0.2 degree.
Figure 1: 有機(jī)玻璃散射X射線光譜
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Comparison of MXRF spectra generated using a focusing polycapillary optic and a pinhole aperture. The spectra was collected by scattering a Mo beam off Plexiglas. |
Figure 2: 采用光暈抑制型毛細(xì)管實(shí)現(xiàn)高分辨率 XRF Mapping
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Comparison of MXRF spectra generated using a focusing polycapillary optic and a pinhole aperture. The spectra was collected by scattering a Mo beam off Plexiglas. |
環(huán)保在線