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錦正茂實驗室物理磁光克爾效應測量系統(tǒng)磁光克爾效應裝置是一種基于磁光效應原理設計的超高靈敏度磁強計，是研究磁性薄膜、磁性微結構的理想測量工具。

磁光克爾效應測量系統(tǒng)物性測試儀器 磁光克爾效應測量系統(tǒng)廣泛應用于諸如磁性納米技術、自旋電子學、磁性薄膜、磁性隨機存儲器、GMR/TMR等磁學領域。

錦正茂實驗室設備-磁光克爾效應測量系統(tǒng)JMTS-816可測試材料：記錄磁頭，磁性薄膜，特殊磁介質，磁場傳感器。

磁光克爾效應測量系統(tǒng)廣泛應用于諸如磁性納米技術、自旋電子學、磁性薄膜、磁性隨機存儲器、GMR/TMR等磁學領域。磁光克爾效應測量系統(tǒng)磁輸運性能測量

磁光克爾效應測量磁性薄膜磁性微結構研究測量精度高、測量時間短；非接觸式測量，是一種無損測量；測量范圍為一個點，可以測量同一樣品不同部位的磁化情況；可以產生平滑、...

磁光克爾效應測量超高靈敏磁強計磁性測量旋轉磁光克爾效應（RotMOKE）是在磁光克爾效應測量基礎上的一種類似于轉矩測量各向異性的實驗方法，可以定量的得到樣品的磁...

磁光克爾效應測量系統(tǒng)磁輸運性能測量設備利用磁光克爾效應測量磁性薄膜的磁信號和磁滯回線，確定磁性薄膜的磁各向異性隨薄膜厚度的影響。

磁光效應磁性薄膜材料磁輸運性能測量設備由于電磁鐵磁場大小的限制，只適合于測量磁各向異性的易軸在膜面內而且矯頑場不太大的磁性薄膜材料。

磁光克爾效應測量儀器實驗室物性測量系統(tǒng)手動左右和上下位移樣品，可測試樣品表面不同點的克爾效應。

磁光克爾效應測量儀器磁性材料測試系統(tǒng)磁光克爾效應測量系統(tǒng)廣泛應用于諸如磁性納米技術、自旋電子學、磁性薄膜、磁性隨機存儲器、GMR/TMR等磁學領域。

磁光克爾效應測量系統(tǒng)磁強計樣品磁性測量磁光克爾效應裝置是一種基于磁光效應原理設計的超高靈敏度磁強計，是研究磁性薄膜、磁性微結構的理想測量工具。

磁光克爾效應測量系統(tǒng)手動非接觸式樣品測試可以將樣品放到真空中原位測量，三百六十度電動旋轉樣品，可測試樣品各向異性

磁光克爾效應測量系統(tǒng)磁學測量儀器可測試材料：記錄磁頭，磁性薄膜，特殊磁介質，磁場傳感器 。

測量系統(tǒng)磁光效應原理分辨率（δ）0.001度起偏/檢偏器：格蘭-湯普森棱鏡，外徑25.4mm，通光孔徑10mm，消光比5*10^-5，角度范圍14~16...

磁光克爾效應測量系統(tǒng)高靈敏磁強計磁性測量非接觸式測量，是一種無損測量系統(tǒng)；可以測量同一樣品厚度不等的楔形磁性薄膜。