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詳細(xì)摘要： 氣相色譜質(zhì)譜儀是精心打造的一款高性價(jià)比氣相色譜質(zhì)譜聯(lián)用儀，具有*的自主知識(shí)產(chǎn)權(quán)，擁有多項(xiàng)技術(shù)，可廣泛應(yīng)用于工業(yè)檢測(cè)、食品安全、環(huán)境保護(hù)等眾多領(lǐng)域。

詳細(xì)摘要： ARL3460落地式直讀光譜儀是世界上應(yīng)用極廣泛的火花直讀光譜儀，非常適用于日常生產(chǎn)控制，質(zhì)量管理和特殊分析研究。

詳細(xì)摘要： ARL 4460直讀光譜儀提供的火花發(fā)射金屬分析性能，可快速可靠地對(duì)金屬質(zhì)量進(jìn)行控制。專為滿足從常規(guī)應(yīng)用到金屬科研的所有金屬分析需求而設(shè)計(jì)，是在各種實(shí)驗(yàn)室及惡劣...

詳細(xì)摘要： 火花直讀光譜儀都可以為主要的金屬生產(chǎn)商、鑄造廠、汽車、電器工業(yè)的金屬加工廠、合同實(shí)驗(yàn)室以及金屬回收商提供渴求的解決方案。ARL iSpark 金屬分析儀適合惡劣...

詳細(xì)摘要： 全譜直讀光譜儀可快速的對(duì)固體金屬樣品進(jìn)行分析。無(wú)論從痕量元素，還是到高濃度的元素，它都能準(zhǔn)確、可靠的分析。

詳細(xì)摘要： XL2 100G 手持式X熒光光譜儀采用堅(jiān)韌的LEXAN.塑料密封外殼，重量輕，堅(jiān)固耐用；密封式一體化設(shè)計(jì)，防塵、防水、防腐蝕，可在任何地方安全使用 ；

詳細(xì)摘要： 手持式X熒光光譜儀是尼通推出的繼XL2型的升級(jí)版，XL3t加入更多人性化功能，檢測(cè)速度快、穩(wěn)定，攜帶輕便。

詳細(xì)摘要： 手持式光譜儀是針對(duì)在野外現(xiàn)場(chǎng)X熒光分析的應(yīng)用而設(shè)計(jì)，具有體積小、重量輕、測(cè)試時(shí)間快、精確、無(wú)損、可定性定量等特點(diǎn)，廣泛應(yīng)用于質(zhì)量控制、材料分類、合金鑒別、安全防...

詳細(xì)摘要： 電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀可為預(yù)算有限的實(shí)驗(yàn)室提供完美解決方案，從而有助于滿足低樣品數(shù)量的處理要求。iCAP 7200 ICP-OES 能分析液體和固體樣品內(nèi)的...

詳細(xì)摘要： 油料直讀光譜儀ROTROIL符合ASTM D6595-00標(biāo)準(zhǔn)；用旋轉(zhuǎn)盤電極原子發(fā)射光譜法測(cè)定已用潤(rùn)滑油或已用液壓流體中雜質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法。

詳細(xì)摘要： 交直流電弧發(fā)射光譜儀是專門為地質(zhì)化探及找礦、土壤、陶瓷、半導(dǎo)體材料、貴金屬、有色冶金（W,Mo,Bi,Ni,Te,Co等）等行業(yè)而設(shè)計(jì)，是于難溶粉末及固體樣品中...

詳細(xì)摘要： 空心陰極光譜儀應(yīng)用于航天、核電、環(huán)境、冶金、電力、地質(zhì)、土壤等領(lǐng)域，具有分析速度快（10S）、精度高（0.01ppm）等特點(diǎn)。它是對(duì)超純難溶金屬痕量雜質(zhì)元素的含...

詳細(xì)摘要： ARL SMS-2000直讀光譜儀可利用靈活的解決方案，使直讀光譜儀進(jìn)行持續(xù)、自動(dòng)和無(wú)人監(jiān)管的操作。Thermo Scientific ARL SMS-2000...

詳細(xì)摘要： AES998直讀光譜儀廣泛應(yīng)用于冶金、鑄造、機(jī)械、金屬加工等領(lǐng)域的生產(chǎn)工藝控制，爐前化驗(yàn)，中心實(shí)驗(yàn)室成品檢驗(yàn)，可用于Fe、Al、Cu、Ni、Co、Mg、Ti、Z...

詳細(xì)摘要： X熒光分析儀是理光熱電公司多年研發(fā)工作的結(jié)晶，該儀器采用美國(guó)*電致冷SDD探測(cè)器，數(shù)字脈沖處理技術(shù)，高性能X射線管和高壓電源，配置，性能。

詳細(xì)摘要： 全譜火花直讀光譜儀是冶金爐前快速定量分析、金屬材料質(zhì)量監(jiān)控的助手，優(yōu)點(diǎn)不再受光電倍增管排布的空間限制，可以任意增加分析元素，無(wú)需增加硬件，維護(hù)保養(yǎng)方便。其分析精...

詳細(xì)摘要： ROHS分析儀采用美國(guó)原裝電致冷高性能Si-PIN探測(cè)器，分辨率高，探測(cè)范圍寬，涵蓋RoHS、鹵素、鍍層、合金（含貴金屬）及各種常規(guī)材料分析的基本要求。