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武漢普賽斯儀表有限公司
武漢普賽斯儀表有限公司
產(chǎn)品型號S200型
品 牌其他品牌
廠商性質(zhì)生產(chǎn)商
所 在 地武漢市
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更新時間：2021-06-18 10:20:05瀏覽次數(shù)：280次
聯(lián)系我時，請告知來自 環(huán)保在線| 測量范圍 | 300mV-300V/100nA-1A | 測量精度 | 0.01 |
|---|---|---|---|
| 外形尺寸 | 425*255*106mm | 用途 | 分立半導(dǎo)體器件,傳感器,太陽能電池,納米材料，有機材料 |
| 重量 | 5kg | 測試范圍 | 0.3mV-300V/100nA-1A |
| 測試精度 | 0.1% | Z大輸出功率 | 30W |
LED必須在合適的電流電壓驅(qū)動下才能正常工作。其電壓-電流之間的關(guān)系稱為I-V特性。通過對LED電特性的測試，可以獲得對應(yīng)正向電壓（Vf）、反向電壓（Vr）及漏電流（Ir）等參數(shù)，以及相應(yīng)的I-V曲線。LED電性能測試數(shù)字源表找生產(chǎn)廠家普賽斯儀表
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led電性能測試數(shù)字源表?概述
LED（全稱為Light-emitting diode）是一種能發(fā)光的半導(dǎo)體電子元件。和普通的二極管一樣，這些半導(dǎo)體材料會預(yù)先透過注入或攙雜等工藝以產(chǎn)生p、n架構(gòu)。LED只能夠往一個方向?qū)ǎㄍ姡?當在兩端加載合適的電壓后，電流可以從p極（陽極）流向n極（陰極），而相反方向則不能。兩種不同的載流子：空穴和電子在不同的電極電壓作用下從電極流向p、n架構(gòu)。當空穴和電子相遇而產(chǎn)生復(fù)合，電子會跌落到較低的能階，同時以光子的模式釋放出能量，即發(fā)光。經(jīng)過多年的發(fā)展，目前LED能夠發(fā)出的光已經(jīng)遍及可見光、紅外線及紫外線，光度亦提高到相當高的程度，用途覆蓋指示燈，顯示板，照明等。
源表，SMU(Source Measure Unit)電源/測量單元，“源”為電壓源和電流源，“表”為測量表，“源表”即指一種可作為四象限的電壓源或電流源提供精確的電壓或電流，同時可同步測量電流值或電壓值的測量儀表。源表集合電壓源、電流源、電壓表、電流表的功能于一身，廣泛用于各類精密器件的測量。
常用測試參數(shù)
LED必須在合適的電流電壓驅(qū)動下才能正常工作。其電壓-電流之間的關(guān)系稱為I-V特性。通過對LED電特性的測試，可以獲得對應(yīng)正向電壓（Vf）、反向電壓（Vr）及漏電流（Ir）等參數(shù)，以及相應(yīng)的I-V曲線。常用的測試方法一般為在LED器件的兩端，加電壓測試電流，或者加電流測試電壓。此外，還可以根據(jù)客戶要求，搭配相應(yīng)的光學(xué)測試系統(tǒng)，測試相應(yīng)的光學(xué)性能。
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（典型二極管I-V特性曲線） 
（LED光電測試系統(tǒng)示意圖）?
Vf正向?qū)妷簻y試
正向?qū)妷?，?/font>LED在正常工作電流下測量的電壓值。當加載在LED兩端的工作電壓，低于導(dǎo)通電壓時，通過LED的電流極小，不發(fā)光。當電壓超過該值后，通過LED的電流隨電壓迅速增加，而后LED發(fā)光。常用測試方法為，將LED的正極接在高電位端，負極接在低電位端，逐漸增加LED的電流（電流值一般為幾mA），并同時測量LED兩端的電壓（電壓值范圍在幾V以內(nèi)）。而后根據(jù)實際測試需要，對數(shù)據(jù)進行分析，得到相應(yīng)的Vf值。
Vr 反向擊穿電壓測試
反向擊穿電壓，是所允許加載在LED兩端的Z大反向電壓。當二極管兩端的反向電壓超過Vr后，反向電流會急劇增大，二極管將失去單方向?qū)щ娞匦裕@種狀態(tài)稱為二極管的擊穿。若長時間工作電壓超過Vr，發(fā)光二極管可能被擊穿損壞。常用測試方法為，將LED的正極接在低電位端，負極接在高電位端，逐漸增加LED的電流（電流值一般為幾mA），并同時測量LED兩端的電壓（電壓值范圍在幾V以內(nèi)）。而后根據(jù)實際測試需要，對數(shù)據(jù)進行分析，得到相應(yīng)的Vr值。由于源表可作為四象限工作的電壓源，因此，在測試時，無需將接線端反接。源表內(nèi)部會自動根據(jù)設(shè)定值，切換輸出端的極性。
Ir漏電流測試
漏電流，指LED處于反向偏置狀態(tài)時，流過二極管的微弱反向電流。此時，LED兩端的電壓低于Vr。常用的測試方法為，將LED的正極接在低電位端，負極接在高電位端，而后根據(jù)實際測試需要，設(shè)定加載在LED兩端的電壓，測量電流Ir。
繪制LED I-V特性曲線測試
連接
如下圖所示，選擇合適的夾具，將LED與S型源表進行連接
（源表測試連接示意圖）
測試步驟
步驟 | 操作方法 | 操作界面 |
選擇掃描模式 | 【主界面】—>【掃描模式】 |
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設(shè)置掃描參數(shù) | 根據(jù)實際測試需要，選擇并設(shè)置相應(yīng)的參數(shù)。比如：【掃描類型】，【限值】，【掃描模式】，【掃描點】等 |
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啟動測試 | 點擊【開始掃描】，即可啟動測試 | / |
測試數(shù)據(jù) | 待測試完畢后，會自動根據(jù)測試結(jié)果繪制I-V曲線，并顯示在屏幕上。此外，如果選擇保存【開始掃描】，也可在插入U盤后，導(dǎo)出測試數(shù)據(jù) |
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S型源表簡介
普賽斯S系列高精度源表，集電壓、電流輸入輸出及測量等多種功能于一體。產(chǎn)品Z大輸出電壓達300V，最小測試電流達100pA，分辨率低至10pA，支持四象限工作，因此,可廣泛應(yīng)用于各種半導(dǎo)體器件I-V電特性測試，如半導(dǎo)體IC，功率半導(dǎo)體器件，傳感器，LED等。產(chǎn)品具有如下特點：
采用5寸800*480觸摸顯示屏，全圖形化操作，操作簡單方便
內(nèi)置豐富的掃描模式，支持線性掃描、指數(shù)掃描及用戶自定義掃描
四象限工作模式，可在源模式或肼模式下工作
支持USB存儲，一鍵導(dǎo)出測試報告
兼容多種上位機通訊方式，RS-232、GPIB及以太網(wǎng)
可搭配普賽斯自主開發(fā)的上位機軟件使用，快速實現(xiàn)不同器件的測試
以上是關(guān)于led電性能測試數(shù)字源表??的方案介紹，更多有關(guān)源表用于LED電性能測試的信息找普賽斯儀表專員為您介紹
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