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詳細摘要： 奧林巴斯STM7測量顯微鏡具有優(yōu)良的多用途性，能夠以亞微米精度實現對零部件和電氣組件的高性能三軸測量。

詳細摘要： 奧林巴斯SZX16通用顯微鏡根據檢測應用的需求設計的，0.7x - 11.5x，變倍比可達16.4倍，分辨率可達900 LP/mm。能夠滿足廣泛的研究需求。

詳細摘要： 奧林巴斯BXFM定制系統(tǒng)顯微鏡是可進行明視野、暗視野、微分干涉、簡易偏光、熒光觀察的小型系統(tǒng)顯微鏡。

詳細摘要： 奧林巴斯BX53P 偏光顯微鏡無限遠校正的優(yōu)勢UIS2光學系統(tǒng)防止了光學顯微鏡性能的降低，消除了對顯微鏡光學放大倍數的影響

詳細摘要： 奧林巴斯半導體/FPD檢測顯微鏡MX63/MX63L能夠提供zui大 300mm 晶圓、平板顯示器、印刷電路板、以及其他大型樣本的高品質觀察。

詳細摘要： 奧林巴斯BX53M正立金相顯微鏡除常規(guī)顯微鏡檢查的傳統(tǒng)襯度對比法，還可以解決以往很多使用傳統(tǒng)襯度對比法檢查時遇到的缺陷檢測方面的困難。

詳細摘要： 奧林巴斯光學數碼顯微鏡DSX510為了使顯微鏡的熟練操作人員能夠直觀完成操作，按照工作流程配置了必要按鈕等的模式。運用電動控制提高了操作速度。

詳細摘要： 奧林巴斯激光共聚焦顯微鏡OLS5000可觀察納米范圍的臺階，并可測量亞微米級別的高度差。還可以測量從線到面的表面粗糙度。