| 四川宇科速振自動(dòng)化設(shè)備有限公司
主營(yíng)產(chǎn)品： WT-φ8電渦流傳感器,HZS-04C智能轉(zhuǎn)速表,HZD-W/L智能振動(dòng)監(jiān)控儀 |
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| 參考價(jià) | 面議 |
- 型號(hào) KH8200
- 品牌 其他品牌
- 廠(chǎng)商性質(zhì) 生產(chǎn)商
- 所在地 成都市
更新時(shí)間：2024-12-30 20:12:45瀏覽次數(shù)：447
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KH8200全自動(dòng)靜態(tài)校驗(yàn)臺(tái)
用于傳感器出廠(chǎng)檢驗(yàn)和用戶(hù)驗(yàn)收電渦流位移傳感器線(xiàn)性的必要工具，為了確保傳感器符合本公司出廠(chǎng)線(xiàn)性度、靈敏度要求，都需要使用靜態(tài)位移校準(zhǔn)儀校驗(yàn)以及對(duì)位移類(lèi)測(cè)量?jī)x表系統(tǒng)的標(biāo)定。
基本技術(shù)參數(shù)
測(cè)量范圍：0~30mm
校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)：百分表
校準(zhǔn)精度：百分表精度
試件直徑：φ75mm
大校準(zhǔn)探頭：φ25mm
試件材料： 45＃鋼
濕 度： 95％濕度，非凝固。
用靜態(tài)位移校驗(yàn)儀校準(zhǔn)傳感器線(xiàn)性和靈敏度或標(biāo)定位移表的注意事項(xiàng)：
探頭螺紋部分用靜態(tài)位移校準(zhǔn)儀上的支架配合螺母夾緊，注意試件盤(pán)的水平垂直性，校驗(yàn)前須檢查探頭端面靠緊試件盤(pán)的表面時(shí)，其相互接觸處應(yīng)無(wú)明顯角度（≤5°）縫隙，這樣才符合校驗(yàn)前的要求。
KH8200全自動(dòng)靜態(tài)校驗(yàn)臺(tái)
校驗(yàn)傳感器時(shí)應(yīng)配合出廠(chǎng)時(shí)提供的傳感器數(shù)據(jù)單。當(dāng)旋轉(zhuǎn)螺桿(位移調(diào)節(jié)螺母)使試件盤(pán)漸漸遠(yuǎn)離探頭的表面，用萬(wàn)用表（5位半以上，并且該表是經(jīng)過(guò)計(jì)量標(biāo)定過(guò)的）觀(guān)察前置器的輸出變化，以傳感器數(shù)據(jù)單上輸出曲線(xiàn)的起始線(xiàn)性電壓為基準(zhǔn)點(diǎn)開(kāi)始校對(duì)，一般情況傳感器線(xiàn)性起點(diǎn)都定在-2.00V（菲利浦傳感器線(xiàn)性起始點(diǎn)電壓為－4.00V）。注意試件盤(pán)從緊靠探頭表面到逐漸離開(kāi)探頭表面，直到前置器輸出電壓為起始線(xiàn)性點(diǎn)電壓時(shí)（此時(shí)還可人為調(diào)整靜態(tài)校驗(yàn)儀上的百分表，使指針對(duì)準(zhǔn)0位置，便于讀數(shù)）。這時(shí)從百分表上讀的起始位置間隙值可能和數(shù)據(jù)單上的起始位置間隙值不*，這種情況是正常的，因?yàn)殚_(kāi)始設(shè)定探頭表面和試件盤(pán)表面靠緊時(shí)，會(huì)存在一定的人為因素誤差和試件材料的略為影響。（如數(shù)據(jù)單上起始位置間隙是1.0mm,而你校對(duì)時(shí)是1.10mm，即使有這種情況也不影響傳感器的測(cè)量非線(xiàn)性誤差和靈敏度,因?yàn)檫@個(gè)起始間隙是屬無(wú)效線(xiàn)性距離，不影響傳感器實(shí)際測(cè)量時(shí)的相對(duì)位移或相對(duì)振動(dòng)）。然后每移動(dòng)0.1mm 或0.2mm或0.5mm或1.0mm觀(guān)察前置器輸出的電壓值并紀(jì)錄。
用靜態(tài)位移校驗(yàn)儀檢驗(yàn)傳感器的線(xiàn)性特性曲線(xiàn)時(shí)，通常將傳感器的滿(mǎn)有效線(xiàn)性量程按20個(gè)等分點(diǎn)進(jìn)行校驗(yàn)（若為φ8探頭電渦流傳感器，其本身有效線(xiàn)性測(cè)量量程為2mm，當(dāng)按20個(gè)等分點(diǎn)進(jìn)行校驗(yàn)時(shí)，即每移動(dòng)試盤(pán)0.1mm后在前置器上讀出一個(gè)數(shù)據(jù)，以此操作，讀出20個(gè)數(shù)據(jù)，繪制傳感器輸出線(xiàn)性特性曲線(xiàn)，分析傳感器輸出曲線(xiàn)非線(xiàn)性誤差是否滿(mǎn)足≤±1％的要求）。位移靜態(tài)校準(zhǔn)儀試件盤(pán)應(yīng)避免接觸強(qiáng)磁性物質(zhì)，以防試件盤(pán)被磁化而改變其材料性質(zhì)，帶來(lái)測(cè)量誤差
