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上海昊量光電設備有限公司


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光腔衰蕩光譜測量系統(tǒng)（ppm級超高精度反射率測量）

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更新時間：2024-02-13 15:44:39瀏覽次數(shù)：180次

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產品簡介

光腔衰蕩光譜方法（CRDS，CavityRing-DownSpectroscopy）是一種基于高精細度諧振腔的高靈敏度探測技術，主要用于測量各種反射率大于99%的超高反射率反射鏡的反射率，測量精度可達百萬分之一量級！光腔衰蕩光譜方法通過對指數(shù)型的腔內衰蕩信號的檢測，擺脫了激光能量輸出的起伏所引起的誤差

詳細介紹

光腔衰蕩光譜方法（CRDS， Cavity Ring-Down Spectroscopy）是一種基于高精細度諧振腔的高靈敏度探測技術，主要用于測量各種反射率大于99%的超高反射率反射鏡的反射率，測量精度可達百萬分之一量級！


光腔衰蕩光譜方法通過對指數(shù)型的腔內衰蕩信號的檢測，擺脫了激光能量輸出的起伏所引起的誤差。由兩片99.99% 反射率組成的光腔對損耗的測量精度可達ppm量級。


應用領域：

高反射鍍膜層損耗的精密測量

正入射反射率R>>99%的平面或凹面光學元件的損耗測量

精度dR/R<2ppm @="" r="">99.5%

檢測用激光波長可選（如≥355nm…532nm…633nm…1064nm…≤1319nm）

 

測量原理：

脈沖光或快速開關的連續(xù)光耦合進諧振腔

待測膜層在每次往返光程中經反射產生損耗

的輸出信號的測量得到衰蕩數(shù)據

脈沖光往返時間已知，根據衰蕩的時間特點，得到反射率

 

技術指標：

測量反射率：    R>>99%

精度：              dR/R < 2ppm="" @="" r="">99.5%

樣品/基底要求*：  ?1"Or 0.5", 厚度~6mm

基底透明，后表面平面拋光

*0o正入射測量，其他要求可訂制。

供電電源：

激光器              100~240VAC, 50~60Hz

探測器              +/-9 VDC

接口：              USB 2.0

含數(shù)據采集， A-D轉換，數(shù)據處理等模塊。軟件包括反射率分析、生產數(shù)據錄入及處理等。

關鍵詞：數(shù)據采集

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