詳細摘要： SKYSCAN2214 CMOS版是Bruker新推出的一代全新納米級三維X射線顯微鏡（XRM），除了保留上一代SKYSCAN2214 ＜500nm的真正三維空...
產品型號：所在地：更新時間：2025-07-03 在線留言污水處理設備 污泥處理設備 水處理過濾器 軟化水設備/除鹽設備 純凈水設備 消毒設備|加藥設備 供水/儲水/集水/排水/輔助 水處理膜 過濾器濾芯 水處理濾料 水處理劑 水處理填料 其它水處理設備
束蘊儀器（上海）有限公司
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詳細摘要： SKYSCAN2214 CMOS版是Bruker新推出的一代全新納米級三維X射線顯微鏡（XRM），除了保留上一代SKYSCAN2214 ＜500nm的真正三維空...
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詳細摘要： X4 POSEIDON 是的高分辨率三維 X 射線成像系統(tǒng)，它建立在我們久負盛名的 SKYSCAN 1272 和 SKYSCAN 1275 系統(tǒng)的成功基礎之上。...
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詳細摘要： PHI nanoTOF3+，的多功能TOF-SIMS具有更強大的微區(qū)分析能力，更加出色的分析精度
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詳細摘要： ADEPT-1010 專為淺層半導體注入和絕緣薄膜的自動分析而設計，是大 多數(shù)半導體開發(fā)和支持實驗室的常用工具。
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詳細摘要： Freiberg Instruments 開發(fā)的X射線輻照儀，是一款單獨運行的定量輻照設備，可與光釋光/熱釋光測年設備（如：lexsyg），順磁測年設備（如：M...
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詳細摘要： PHI公司的PHI 710掃描俄歇納米探針是一臺設計的高性能的俄歇電子能譜（AES）儀器。該設備能分析納米級特征區(qū)域,超薄薄膜和多層結構表界面的元素態(tài)和化學態(tài)信...
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詳細摘要： PHI 硬X射線光電子能譜儀，下一代透明發(fā)光材料使用直徑約為10nm~50nm 的納米量子點(QDs)，結合使用 XPS(Al Ka X射線)和 HAXPES(...
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詳細摘要： 液滴形狀分析儀 – DSA25 是一款可靠的接觸角測定儀器，簡單易用。從簡單潤濕性測試到準確測定表面自由能，DSA25 能為分析表面潤濕和粘附提供靈活的選擇，結...
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詳細摘要： PDF-5+ 2025版數(shù)據(jù)庫，所收錄物相的標準衍射卡片涵蓋約50多種科學研究領域，如電池材料、熱電材料、超導材料、金屬材料、陶瓷材料、礦物材料、金屬合金、藥物...
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詳細摘要： PDF-4 Axiom 2025版數(shù)據(jù)庫，所收錄物相的標準衍射卡片涵蓋約多種科學研究領域，如電池材料、熱電材料、超導材料、金屬材料、陶瓷材料、礦物材料、金屬合金...
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詳細摘要： Omega/Theta XRD用于超快速的晶體定向、生產中的晶體排列、質量控制、搖擺曲線測量、材料研究等。SiC | Si| AlN | GaAs | Quar...
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詳細摘要： 臺式microESR通用型ESR/工業(yè)分析/教育電子自旋共振（ESR）波譜儀能夠檢測樣品中自由基的濃度和成分
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詳細摘要： 臺式ESR5000波譜儀緊湊型高性能儀器，其靈敏度和可靠性足可勝任EPR波譜領域的苛刻應用*而廣泛EPR（電子順磁共振）波譜技術是能明確地檢測和定量含有未配對電...
產品型號：所在地：更新時間：2025-02-01 在線留言
詳細摘要： 晶圓x射線晶體定向儀分揀系統(tǒng)用于全自動分揀、晶體取向、optical notch and flat determination測定等。Si | SiC | Al...
產品型號：所在地：更新時間：2024-04-02 在線留言
詳細摘要： 德國Freiberg Instruments 電阻率測試儀（RESmap ）在對低電阻率晶錠和晶圓進行非接觸式測量方式上擁有非常重要的重復性 Si | Ge |...
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詳細摘要： 測量搖擺曲線意味著在Theta-scan模式下進行測量，這需要一個測角儀。一個雙晶體被帶入主光束路徑，以減少光譜寬度和發(fā)散度。然而，其副作用是強烈的強度降低。
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詳細摘要： 晶錠XRD有著的XRD系統(tǒng)，用于單晶晶錠的自動定向、傾斜和對準研磨。SiC | Si| AlN | GaAs | Quartz | LiNbO3 | BBO和其...
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詳細摘要： 在晶圓片的注入和光刻過程中，需要平面或凹槽作為定位標記。切割過程中，晶片必須正確地對準晶圓片上易于切割的晶格面。因此，檢查平面或缺口的位置至關重要。
產品型號：所在地：更新時間：2024-04-02 在線留言
詳細摘要： Mapping面掃臺允許使用受控的網(wǎng)格模式來探索整個樣品表面。Omega/Theta XRD可以很容易地在轉盤頂部容納額外的XY定位平臺。樣品表面可以根據(jù)用戶定...
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詳細摘要： 靈活的OEM少子壽命測試儀器，用于各種不同樣品的少子壽命測量，從單晶硅磚到多晶硅磚，從生長的硅片到不同層或金屬化的硅片的過程控制。標準的軟件接口，便于連接到許多...
產品型號：所在地：更新時間：2024-04-02 在線留言您感興趣的產品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
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