介電常數(shù)測試儀是用于測量不同濃度溶液的介電常數(shù)，由精密數(shù)字電橋、測試裝置，標(biāo)準介質(zhì)樣品組成，能對絕緣材料進行高低頻介質(zhì)損耗值(D或tanδ)和介電常數(shù)(ε)的測試。用于科研機關(guān)、學(xué)校、工廠等單位對無機金屬新材料性能的應(yīng)用研究。
 

　　什么是介電常數(shù)？
 

　　塑料或電介質(zhì)或絕緣材料的介電常數(shù)(Dk)可以定義為存儲在放置在兩個金屬板之間的絕緣材料中的電荷與當(dāng)絕緣材料被真空或空氣替換時可以存儲的電荷的比率，它也被稱為介電常數(shù)或簡稱為介電常數(shù)。并且，有時稱為相對介電常數(shù)，因為它是根據(jù)自由空間的介電常數(shù)(ε0)相對測量的。
 

　　主要應(yīng)用：
 

　　在生產(chǎn)收音機和其他電氣設(shè)備中使用的電容器時使用材料。電路設(shè)計人員常用來比較不同的印刷電路板(PCB)材料。此外，還可用于開發(fā)儲能應(yīng)用的材料，例如，聚合物基介電復(fù)合材料非常適合從電子封裝、嵌入式電容器到能量存儲的應(yīng)用。這些復(fù)合材料在加工溫度低的情況下具有高度的柔韌性，并且它們表現(xiàn)出相對高的介電常數(shù)、低介電損耗和高介電強度。
 

　　介電常數(shù)測試儀適用于固體電工絕緣材料如絕緣漆、樹脂和膠、浸漬纖制品、層壓制品、云母及其制品、塑料、電纜料、薄膜復(fù)合制品、陶瓷和玻璃等的相對介電系數(shù)(ε)與介質(zhì)損耗角正切值(tgδ)的測試。本電極主要用于頻率在工頻50Hz下測量試品的相對介電系數(shù)(ε)和介質(zhì)損耗角正切值(tgδ)。本電極的設(shè)計主要是參照國標(biāo)GB1409。
 

　　AS2855高頻絕緣材料介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試系統(tǒng)由S916測試裝置(夾具)、QBG-3E/QBG-3F/AS2853A型高頻Q表、數(shù)據(jù)采集和tanδ自動測量控件(裝入QBG-3E/QBG-3F或AS2853A的軟件模塊)、及LKI-1型電感器組成。依據(jù)國標(biāo)GB/T 1409-2006、GB/T 1693-2007、美標(biāo)ASTM D150以及國際電工委員會IEC60250的規(guī)定設(shè)計制作。系統(tǒng)提供了絕緣材料的高頻介質(zhì)損耗角正切值(tanδ)和介電常數(shù)(ε)自動測量的最佳解決方案。本儀器中測試裝置是由平板電容器組成，平板電容器一般用來夾被測樣品，配用Q表作為指示儀器。絕緣材料的損耗角正切值是通過被測樣品放入平板電容器和不放樣品的Q值變化和厚度的刻度讀數(shù)通過公式計算得到。
 

　　AS2855高頻介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試系統(tǒng)主要測試材料:
 

　　1 絕緣導(dǎo)熱硅膠,石英晶玻璃,陶瓷片,薄膜,OCA光學(xué)膠,環(huán)氧樹脂材料,塑料材料,FR4 PCB板材, PA尼龍/滌綸,PE聚乙烯,PTFE聚四氟乙烯,PS聚苯乙烯,PC聚碳酸旨,PVC,PMMA等