AS2855高頻絕緣材料介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試系統(tǒng)由S916測試裝置（夾具）、QBG-3E/QBG-3F/AS2853A型高頻Q表、數(shù)據(jù)采集和tanδ自動測量控件（裝入QBG-3E/QBG-3F或AS2853A的軟件模塊)、及LKI-1型電感器組成。依據(jù)國標(biāo)GB/T 1409-2006、GB/T 1693-2007、美標(biāo)ASTM D150以及國際電工委員會IEC60250的規(guī)定設(shè)計(jì)制作。系統(tǒng)提供了絕緣材料的高頻介質(zhì)損耗角正切值(tanδ)和介電常數(shù)(ε)自動測量的最佳解決方案。本儀器中測試裝置是由平板電容器組成，平板電容器一般用來夾被測樣品，配用Q表作為指示儀器。絕緣材料的損耗角正切值是通過被測樣品放入平板電容器和不放樣品的Q值變化和厚度的刻度讀數(shù)通過公式計(jì)算得到。使用QBG-3E或AS2853A數(shù)字Q表具有自動計(jì)算介電常數(shù)（ε）和介質(zhì)損耗（tanδ）。

一、本設(shè)備適用標(biāo)準(zhǔn)

1 GBT 1409-2006 測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻(包括米波波長存內(nèi))下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的推薦方法

2 GBT 1693-2007 硫化橡膠 介電常數(shù)和介質(zhì)損耗角正切值的測定方法

3 ASTM-D150-介電常數(shù)測試方法

4 GB9622.9-88/SJT 11043-1996 電子玻璃高頻介質(zhì)損耗和介電常數(shù)的測試方法

二 AS2855介電常數(shù)/介質(zhì)損耗測試系統(tǒng)系統(tǒng)組成：

1. 主機(jī)：AS2853A/QBG-3E/QBG-3F 高頻Q表

2. S916（數(shù)顯）介電常數(shù)ε_r和介質(zhì)損耗因數(shù)tanδ測試裝置：

固體：材料測量直徑 Φ38mm； 厚度可調(diào) ≥ 15mm （二選一）  

液體：測量極片直徑 Φ38mm； 液體杯內(nèi)徑Φ48mm 、深7mm（選配）

3. LKI-1電感組

注意: 可定制100MHz電感.

AS2853A主機(jī)和QBG-3E/QBG-3F區(qū)別在于可以測試精度0.0001的材料介損值

三 AS2855高頻介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試系統(tǒng)主要測試材料:

1 絕緣導(dǎo)熱硅膠,石英晶玻璃,陶瓷片,薄膜,OCA光學(xué)膠,環(huán)氧樹脂材料,塑料材料,FR4 PCB板材, PA尼龍/滌綸,PE聚乙烯,PTFE聚四氟乙烯,PS聚苯乙烯,PC聚碳酸旨,PVC,PMMA等