西安天光測(cè)控技術(shù)有限公司
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詳細(xì)摘要： IGBT動(dòng)態(tài)參數(shù)開(kāi)關(guān)短路反向恢復(fù)測(cè)試系統(tǒng)概述IGBT是廣泛應(yīng)用于現(xiàn)代中、大功率變換器中的主流半導(dǎo)體開(kāi)關(guān)器件，其開(kāi)關(guān)特性決定裝置的開(kāi)關(guān)損耗、功率密度、器件應(yīng)力以及...
產(chǎn)品型號(hào)：TRd 2015所在地：西安市更新時(shí)間：2023-09-13 在線留言
詳細(xì)摘要： *品牌：天光測(cè)控半導(dǎo)體器件老化測(cè)試篩選系統(tǒng)*型號(hào)：ST-PC_X*用途：可測(cè)試 Si / SiC / GaN 材料的 IGBTs / DIODEs / MOSF...
產(chǎn)品型號(hào)：ST-PC_X所在地：西安市更新時(shí)間：2023-09-13 在線留言
詳細(xì)摘要： 天光測(cè)控IGBT開(kāi)關(guān)特性測(cè)試儀——型號(hào)：供應(yīng)廠家：天光測(cè)控；型號(hào)：ST-DP_X（1200V200A）；用途：用于Si/SiC/GaN 材料的 MOSFET&I...
產(chǎn)品型號(hào)：ST-DP_X所在地：西安市更新時(shí)間：2023-09-13 在線留言您感興趣的產(chǎn)品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
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