束蘊儀器（上海）有限公司
詳細(xì)摘要： 晶圓x射線晶體定向儀分揀系統(tǒng)用于全自動分揀、晶體取向、optical notch and flat determination測定等。Si | SiC | Al...
產(chǎn)品型號：所在地：更新時間：2024-04-02 在線留言
詳細(xì)摘要： 德國Freiberg Instruments 電阻率測試儀（RESmap ）在對低電阻率晶錠和晶圓進行非接觸式測量方式上擁有非常重要的重復(fù)性 Si | Ge |...
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詳細(xì)摘要： 測量搖擺曲線意味著在Theta-scan模式下進行測量，這需要一個測角儀。一個雙晶體被帶入主光束路徑，以減少光譜寬度和發(fā)散度。然而，其副作用是強烈的強度降低。
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詳細(xì)摘要： 晶錠XRD有著的XRD系統(tǒng)，用于單晶晶錠的自動定向、傾斜和對準(zhǔn)研磨。SiC | Si| AlN | GaAs | Quartz | LiNbO3 | BBO和其...
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詳細(xì)摘要： 在晶圓片的注入和光刻過程中，需要平面或凹槽作為定位標(biāo)記。切割過程中，晶片必須正確地對準(zhǔn)晶圓片上易于切割的晶格面。因此，檢查平面或缺口的位置至關(guān)重要。
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詳細(xì)摘要： Mapping面掃臺允許使用受控的網(wǎng)格模式來探索整個樣品表面。Omega/Theta XRD可以很容易地在轉(zhuǎn)盤頂部容納額外的XY定位平臺。樣品表面可以根據(jù)用戶定...
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