QNix4200/4500 涂層測厚儀性能特點：
QNix4200和QNix4500采用一體化設(shè)計，只需調(diào)零，無需校準，使用極其簡單。其中QNix4200為磁性測厚儀，可以用來測量鋼、鐵等磁性基體上的涂層、鍍層；QNix4500為磁性和渦流兩用測厚儀，不僅可以用來測量鋼鐵等磁性基體，還可以用來測量鋁、銅、不銹鋼等非磁性金屬表面的涂層、氧化膜、磷化膜等覆層。操作簡單，攜帶方便，精度高，為廣大用戶所喜愛。產(chǎn)品優(yōu)點：只需調(diào)零，無需校準
體積小巧，操作方便，自動識別基體，精度高 ，價格便宜
QNix4200/4500 涂層測厚儀探頭：
探頭形式 | 一體式 |
可選探頭 | Fe鐵基探頭：0-3000μm NFe非鐵基探頭: 0-2000μm |
QNix4200/4500 涂層測厚儀技術(shù)參數(shù)：
測量范圍：Fe鐵基探頭：0-3000μm NFe非鐵基探頭: 0-2000μm顯示精度：0.1um 重量：110g
精度：0-50um:≤±1um；
下限小接觸面：
下限小曲率半徑：
下限小基體厚度：
溫度補償范圍：0-60℃
顯示：LCD液晶(帶背光)
探頭：紅寶石固定式
電源：2×1.5V干電池
尺寸：100×60×27mm
QNix4200/4500 涂層測厚儀標準配置：
主機含探頭、
校準基體、
電池、
隨機文件、
儀器箱
環(huán)保在線