為精密科學(xué)而生,為人性設(shè)計(jì)而生 |
■ 無需再磁場(chǎng)翻轉(zhuǎn)
■ 可匹配類型的磁環(huán)境
■ 測(cè)量速度是目前業(yè)內(nèi)常規(guī)霍爾的100倍
■ 理想的超低遷移率材料的測(cè)試設(shè)備
霍爾效應(yīng)測(cè)量是表征新型電子材料和器件的傳輸特性的關(guān)鍵。目前科研人員常規(guī)使用傳統(tǒng)的DC場(chǎng)方法進(jìn)行,只需要穩(wěn)定的電流源,電壓表,開關(guān)和磁環(huán)境,并且對(duì)于具有較高遷移率的較簡(jiǎn)單材料而言其測(cè)量數(shù)據(jù)相對(duì)簡(jiǎn)單且可靠。然而,隨著科研和材料的發(fā)展,目前越來越多的材料的遷移率開始越來越低,其測(cè)試變得更加困難,測(cè)量數(shù)據(jù)也變得很糟糕,如重復(fù)性很差,霍爾電壓與理論值偏差異常大,P/N結(jié)判斷錯(cuò)誤等等。特別是對(duì)于現(xiàn)在的各類新型半導(dǎo)體材料,如光伏、熱電和有機(jī)物方面的材料。
在過去的幾年中,對(duì)于低遷材料的解決辦法就是使用AC磁場(chǎng)技術(shù)屏蔽干擾電壓和提取較小的霍爾電壓信號(hào),其測(cè)試數(shù)據(jù)雖然可靠,但是其中測(cè)量窗口的延長(zhǎng),同時(shí)也意味著熱漂移誤差的不全部去除。但延長(zhǎng)的測(cè)量間隔也會(huì)增加熱漂移效應(yīng)的新形式誤差。隨著技術(shù)的發(fā)展,現(xiàn)在已有一款更快速的霍爾測(cè)量?jī)x來替代之前“漫長(zhǎng)"AC測(cè)試,使得您可以輕松實(shí)現(xiàn)低遷材料的測(cè)試,您還在等什么呢?
快速霍爾技術(shù)就是為了可以在幾秒鐘之內(nèi)完成對(duì)于低遷移率材料的精準(zhǔn)測(cè)量,*消除因?yàn)闇y(cè)試窗口的延長(zhǎng)引起的熱漂移誤差。
M91 快速霍爾測(cè)量?jī)x特點(diǎn)
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■ 支持范德堡和霍爾巴測(cè)試
■ 支持傳統(tǒng)DC霍爾測(cè)量
■ 支持Step-By-Step操作,實(shí)現(xiàn)您想要的測(cè)試
■ 無需再進(jìn)行磁場(chǎng)反轉(zhuǎn)
■ 無需AC磁場(chǎng)霍爾測(cè)量
■ 自動(dòng)優(yōu)化激勵(lì)量程和測(cè)量量程
■ 遷移率支持到0.001cm2/Vs
■ 高阻選件允許測(cè)量樣品阻值 10MΩ to 200GΩ
■ 從干擾測(cè)量參數(shù)中提取有效測(cè)試數(shù)據(jù)
■ 可與簡(jiǎn)易SCPI命令界面或MeasureLINK-MCS軟件配合使用
■ 用于簡(jiǎn)化集成和數(shù)據(jù)傳輸?shù)臄?shù)字和
■ 模擬I/O