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集成電路引線彎曲試驗儀主要用于測定集成電路產(chǎn)品、IC芯片、電子元器件及設備物理性能試驗中引線涂覆層附著力檢測以及引腳在拉力、彎曲、扭轉三種作用力下的形變狀態(tài)。
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