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當(dāng)前位置:上海艾研生物科技有限公司>>美國PSS粒度檢測分析儀>> NiComp380ZLSNiComp380ZLS粒度及Zeta電位檢測分析儀
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產(chǎn)品型號NiComp380ZLS
品 牌
廠商性質(zhì)經(jīng)銷商
所 在 地上海市
更新時間:2022-07-18 11:08:20瀏覽次數(shù):4862次
聯(lián)系我時,請告知來自 環(huán)保在線NiComp380ZLS照片
粒度及Zeta電位檢測分析儀NiComp380ZLS,美國PSS公司粒度儀。上海拜力生物公司一級代理商。美國PSS公司自1978年創(chuàng)建以來,一直在為顆粒檢測分析領(lǐng)域提供技術(shù)的儀器設(shè)備。
PSS公司簡介:美國PSS公司自1978年創(chuàng)建以來,一直在為顆粒檢測分析領(lǐng)域提供技術(shù)的儀器設(shè)備。我們始終把用戶放在*,一如既往地致力于為用戶解決顆粒檢測分析和Zeta電位測定的各種疑難問題。無論是濕法還是干法檢測分析,也無論是實驗室研究還是生產(chǎn)現(xiàn)場在線檢測/監(jiān)測分析,我們都能提供*的模塊化儀器設(shè)備滿足用戶的不同需求。
粒度及Zeta電位檢測分析儀NiComp380ZLS產(chǎn)品簡介:NiComp 380 ZLS 采用*的設(shè)計理念優(yōu)化結(jié)構(gòu)設(shè)計,充分有效地融合了動態(tài)光散射(DLS)和電泳光散射(ELS)技術(shù),即可以多角度(步長0.9°)檢測分析液態(tài)納米顆粒系的粒度及粒度分布,又可以小角度測量Zeta電位。
粒度檢測分析復(fù)合采用 Gaussian 單峰算法和擁有技術(shù)的 NiComp 無約束自由擬合多峰算法,對于多組分、粒徑分布不均勻液態(tài)分散體系的分析以及膠體體系的穩(wěn)定性分析具有*優(yōu)勢,其優(yōu)異的解析度及重現(xiàn)性是其他同類產(chǎn)品*的。
NiComp 380 ZLS通過檢測分析膠體顆粒的電泳遷移率測量Zeta電位。Zeta電位是對顆粒之間相互排斥或吸引力的強度的度量,是表征膠體分散系穩(wěn)定性的重要指標(biāo),Zeta電位(正或負(fù))越高,體系越穩(wěn)定。
整機采用模塊化設(shè)計,功能擴展靈活方便。*的樣品池設(shè)計使得伺樣方便快捷、用樣量少,無須進行繁瑣的樣品池校準(zhǔn)。
粒度及Zeta電位檢測分析儀NiComp380ZLS特別介紹:380ZLS configuration
原產(chǎn)地供應(yīng)商 | 美國/ PARTICLE SIZING SYSTEMS,INC | |
型號 | 數(shù)量 | 規(guī)格描述 |
380ZLS | 1SET | NICOMP 380 Submicron Particle Sizer Nicomp 380 微粒粒徑檢測儀 |
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| Size range:0.5nm to 6 microns. 粒徑范圍:0.5納米 – 6微米。 |
Optics unit:15-mW laser (see alternate laser diode option below). 激光光源:15毫瓦大功率固體紅色發(fā)光二極管 (功率及波長可選)。 | ||
Detector: High-gain PMT detector. 探測器:高靈度PMT探測器。 | ||
Size measurement angle:90° 檢測角度:90° | ||
Fast, 32-bit digital autocorrelator, new DSP design (4 x T.I. C31). 快速的32位數(shù)字自動相關(guān)器,數(shù)字信號處理技術(shù)(4 x T.I. C31) 。 | ||
Internal analysis computer: fast DSP design (T.I. C31). 內(nèi)置分析計算器: 高速數(shù)字信息處理系統(tǒng)(T.I. C31) 。 | ||
Analysis method :Classical GAUSSIAN and NICOMP Proprietary Multimodal Analysis. 分析方法:經(jīng)典的高斯分布和多峰模式的NICOMP分布。 | ||
Time-history display/printout, three weighting options. 可顯示/打印粒徑-時間分布圖,并提供Intensity、Volume和Number三種分布圖。 | ||
1SET | Zeta Potential Analyzer Subsystem Zeta 電位檢測器 | |
| Zeta Potential measurement range: 10nm to15 microns . Zeta電位檢測范圍:10納米 – 15微米。 | |
Heterodyne electrophoretic dynamic light scattering. 外差電泳動態(tài)光散射。 | ||
1024-channel, 32-bit digital autocorrelator (DSP-based, 4 x T.I. C31). 1024條通道,32位數(shù)字自相關(guān)器(基于數(shù)字信號處理,4 x T.I. C31)。 | ||
Doppler-shifted power spectrum obtained by FFT analysis. FFT分析獲得的多普勒轉(zhuǎn)換能譜。 | ||
Low-angle measurement (19deg.) –minimizes broadening due to diffusion. 低角度測量(19 deg.)擴散減小到zui小值。 | ||
Electric field range:0.1 – 200 V / cm. 場強范圍:0.1 – 200 伏 / 厘米。 | ||
Temperature range: 10 to 75 deg C (reg. to+0.3 deg C). 溫度范圍:5 to 75 deg C (reg. to+0.3 deg C) 。 | ||
Solid palladium electrode assembly (disposable cuvets), no alignment/calibration required. 鈀電極裝置(可重復(fù)使用的石英樣品池),無需校正。 | ||
1SET | Phase Analyze Light Scattering System PALS技術(shù)裝置 | |
| Both stably tested in liquid and organic solvent. 在水劑和有機相中進行穩(wěn)定的電位檢測。 |
主要特點:
△*的樣品池設(shè)計,無需進行繁瑣的樣品池校正
△一次性樣品池,制樣方便快捷,避免樣品交叉污染
△快速自動分析,少于1分鐘
△時間歷史曲線,可獲得*測量時間
△流通樣品池,可自動稀釋或自動滴定
△高精度步進電機與創(chuàng)新的光纖技術(shù)相結(jié)合,無需任何人工校準(zhǔn)和定位
△自動基線檢測,全程掃描跟蹤
△基于光纖技術(shù)的多角度粒度檢測分析,檢測角范圍10 ~ 175度(步長0.9度)
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