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鉑悅儀器（上海）有限公司 廣州辦事處
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產(chǎn)品型號(hào)M1 MISTR
品 牌
廠商性質(zhì)代理商
所 在 地廣州市
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更新時(shí)間：2018-05-14 09:00:00瀏覽次數(shù)：551次
聯(lián)系我時(shí)，請(qǐng)告知來(lái)自 環(huán)保在線臺(tái)式微區(qū)X射線熒光光譜儀M1 MISTRAL
臺(tái)式微區(qū)X射線熒光光譜儀
用于大件樣品與鍍層樣品的無(wú)損分析
無(wú)需任何準(zhǔn)備即可分析任何形狀的樣品
M1 MISTRAL是采用X射線熒光技術(shù)的光譜儀，可對(duì)大件樣品盒鍍層樣品進(jìn)行準(zhǔn)確的分析。分析的元素范圍：原子序數(shù)Z=22（鈦）以上的所有元素。因此，它可以分析的物質(zhì)范圍較廣，譬如金屬、合金、金屬鍍層，包括多層鍍層樣品。
臺(tái)式微區(qū)X射線熒光光譜儀M1 MISTRAL
臺(tái)式微區(qū)X射線熒光光譜儀
用于大件樣品與鍍層樣品的無(wú)損分析
無(wú)需任何準(zhǔn)備即可分析任何形狀的樣品
M1 MISTRAL是采用X射線熒光技術(shù)的光譜儀，可對(duì)大件樣品盒鍍層樣品進(jìn)行準(zhǔn)確的分析。分析的元素范圍：原子序數(shù)Z=22（鈦）以上的所有元素。因此，它可以分析的物質(zhì)范圍較廣，譬如金屬、合金、金屬鍍層，包括多層鍍層樣品。
樣品尺寸zui大可達(dá)100x100x100mm，無(wú)需任何處理，直接放在樣品臺(tái)上檢測(cè)。
光管位于樣品上方，測(cè)量過(guò)程中不接觸樣品，因此可以很容易地分析復(fù)式樣的樣品，如精工細(xì)作的珠寶或者不同厚度的樣品。
可以精確測(cè)量用戶的所需的位置
M1 MISTRAL的微焦斑X射線光管，即使光斑小到100μm也可以產(chǎn)生足夠的射線強(qiáng)度，光斑大小取決于所使用的準(zhǔn)直器。
采用視頻顯微鏡進(jìn)行準(zhǔn)確定位，可以測(cè)量任何想測(cè)的位置。可選的計(jì)算機(jī)控制的自動(dòng)樣品臺(tái)，并自動(dòng)聚焦。
超快檢測(cè)系統(tǒng)，迅速產(chǎn)生結(jié)果
M1 MISTRAL可配有兩種不同的X射線探測(cè)器：大面積充氣正比計(jì)數(shù)器，可用于質(zhì)量控制中的標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)用；或者配置硅漂移探測(cè)器，具有超快的檢測(cè)速度盒非常好的能量分辨率，檢出限可以達(dá)到0.01%（重量比）。*的探測(cè)器，數(shù)字脈沖處理器及優(yōu)化的幾何結(jié)構(gòu)，確保了X射線探測(cè)的zui大效率，能夠快速地得到準(zhǔn)確的分析結(jié)果。
易使用，免維護(hù)
M1 MISTRAL及XSpect軟件的設(shè)計(jì)，讓操作人員只需經(jīng)過(guò)簡(jiǎn)單的培訓(xùn)即可使用。
僅一個(gè)電源接口就可以運(yùn)行儀器，采用空氣冷卻，無(wú)需消耗品。緊固的結(jié)構(gòu)確保zui高的穩(wěn)定性，并*免維護(hù)。
珠寶及合金分析
M1 MISTRAL是珠寶、硬幣及貴金屬的理想分析工具。所有珠寶合金、鉑族金屬及銀制品，不到1分鐘就可以確定其準(zhǔn)確成分。分析結(jié)果可以用百分比或K(克拉)表示
測(cè)量RoHS檢測(cè)要求
高性能的M1 MISTRAL也可以測(cè)量RoHS指令限定的輕基體的痕量元素。直接控制電氣產(chǎn)品中有害元素的濃度。
測(cè)量鍍層樣品
采用X射線熒光技術(shù)的M1 MISTRAL可以分析薄鍍層樣品，如印刷電路板、金屬或塑料件，包括單層鍍層和多層多層。XSpect軟件采用無(wú)標(biāo)樣基本參數(shù)法，可以同時(shí)計(jì)算鍍層厚度和鍍層組成。使用標(biāo)準(zhǔn)樣品可以進(jìn)一步提高定量分析的準(zhǔn)確性。
部分應(yīng)用簡(jiǎn)介
M1 MISTRAL的應(yīng)用領(lǐng)域很廣，我們選擇3個(gè)常見(jiàn)的例子進(jìn)行簡(jiǎn)要介紹。
珠寶檢測(cè)
可分析的多層鍍膜樣品
可以測(cè)定鍍層樣品的鍍層厚度及成分，例如：
XSpect分析軟件
XSpect軟件具有以下功能：
參數(shù) | M1 MISTRTALpc | M1 MISTRTALSDD |
元素分析范圍 | Ti（22）-U（92） | Na（11）-U（92） |
激發(fā)源 | 高性能微焦斑光管，W靶，玻璃視窗 | 高性能微焦斑光管，W靶，玻璃視窗 |
電壓及功率 | 50kV，50W；可選40kV，40W | 50kV，50W |
探測(cè)器 | 大面積正比計(jì)數(shù)器，1100mm2感應(yīng)面積 | Peltier制冷高性能XFlashR硅漂移探測(cè)器，30mm2感應(yīng)面積， 對(duì)Mn-Ka能量分辨率<150eV |
光斑尺寸 | 準(zhǔn)直器：固定或4個(gè)自由切換，Φ0.1到Φ2 mm | 準(zhǔn)直器：固定或4個(gè)自由切換，Φ0.2到Φ2 mm |
樣品觀察 | 高分辨率彩色攝像系統(tǒng)，放大倍率20-40倍 | 高分辨率彩色攝像系統(tǒng)，放大倍率20-40倍 |
樣品臺(tái) | 馬達(dá)驅(qū)動(dòng)Z方向樣品臺(tái)，自動(dòng)對(duì)焦， 選項(xiàng)：馬達(dá)驅(qū)動(dòng)X-Y-Z樣品臺(tái)便捷進(jìn)樣功能 | 馬達(dá)驅(qū)動(dòng)X-Y-Z樣品臺(tái)便捷進(jìn)樣功能 |
定量分析 | 塊狀樣品：基于標(biāo)樣的經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法模式和無(wú)標(biāo)樣模式 鍍層分析：FP-基數(shù)參數(shù)法模式 | 塊狀樣品：基于標(biāo)樣的經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法模式和無(wú)標(biāo)樣模式 鍍層分析：FP-基數(shù)參數(shù)法模式 |
電源 | 110-230V AC；50/60 Hz，zui大功率100W | 110-230V AC；50/60 Hz，zui大功率120W |
尺寸 （寬ⅹ深ⅹ高） | 550ⅹ700ⅹ430 mm | 550ⅹ700ⅹ430 mm |
重量 | 46 kg | 50 kg |
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