粗糙度儀測(cè)量平臺(tái)TA610
- 齒條升降,立柱可以隨意轉(zhuǎn)動(dòng),用來(lái)測(cè)量不容易放置的工件,可提高測(cè)量精度
- 花崗巖平臺(tái)平面度:00級(jí)|平面公差值3μm
- 花崗巖平臺(tái)尺寸:400×250×70mm
- 垂直升降高度:270mm
- 垂直升降微調(diào)量:20mm
粗糙度儀測(cè)量平臺(tái)TA620
- 絲桿升降,平臺(tái)上設(shè)置V型槽,用來(lái)測(cè)量形狀較小的工件,可提高測(cè)量精度
- 花崗巖平臺(tái)平面度:00級(jí)|平面公差值3μm
- 花崗巖平臺(tái)尺寸:400×250×70mm
- 垂直升降高度:300±1mm
- 升降回程誤差:≤手輪旋轉(zhuǎn)1/6圈