ZJD-A型介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀

一、概述：

      ZJD-A型介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀是一種通用的，多用途，多量程的高頻阻抗測量儀器。它可測量高頻電感器，高頻電容器及各種諧振元件的品質(zhì)因數(shù)（Q值）、電感量、電容量、分布電容、分布電感，也可測量高頻電路組件的有效串、并聯(lián)電阻、傳輸線的特征阻抗、電容器的損耗角正切值、電工材料的高頻介質(zhì)損耗、介質(zhì)常數(shù)等等。因而高頻Q表不但廣泛用于高頻電子元件和材料的生產(chǎn)、科研、品質(zhì)管理等部門、也是高頻電子和通信實(shí)驗(yàn)室的常用儀器。它的測試回路采用了優(yōu)化的設(shè)計(jì)、優(yōu)質(zhì)的介質(zhì)材料和優(yōu)良的涂覆工藝使殘值減少。其高頻信號源是采用DDS數(shù)字合成、Q值測定和顯示部分運(yùn)用了微機(jī)技術(shù)和智能化管理，數(shù)碼鎖定信號源頻率，諧振回路自動搜索，測試標(biāo)頻自動設(shè)置技術(shù)，使得測試精度更高，使生產(chǎn)線分選測試速度大增。

二、技術(shù)參數(shù)：

Q值測量：1-999 三位數(shù)顯，自動切換量程，可手動設(shè)置測量量程

固有誤差：≤5%±滿度值的2%

工作誤差：≤7%±滿度值的2%

電感測量：0.1μH-1H 誤差<5%±0.03μH

測試頻率：10kHz-60MHz 五位數(shù)顯 DDS數(shù)字合成

具有頻標(biāo)自動設(shè)置,自動搜索諧振點(diǎn),Q值合格設(shè)置,聲光指示

頻率誤差：3×10-5±1個(gè)字

調(diào)諧電容：主電容：40-500PF 誤差<±1%或 1PF

微調(diào)電容：±3PF 分辨率0.2PF

三、夾具工作特性 ：

1.平板電容器：

極片尺寸：Φ50mm/Φ38mm可選

極片間距可調(diào)范圍：≥15mm

2. 夾具插頭間距：25mm±0.01mm

3. 夾具損耗正切值≤4×10－4 （1MHz）

4．測微桿分辨率：0.001mm

四、配置：

主機(jī)一臺

電感九支

夾具一套

隨機(jī)文件一套

相關(guān)型號：ZJD-B

           ZJD-C