涂層測(cè)厚儀,膜厚計(jì),CHY115導(dǎo)磁非導(dǎo)磁材料

產(chǎn)品特色：
■CE 認(rèn)證合格
■可偵測(cè)導(dǎo)磁、非導(dǎo)磁材料
■資料儲(chǔ)存支援 255 筆
■可設(shè)定 Hi/Lo 警報(bào)蜂鳴的讀值范圍
■選擇平均值、zui大值、zui小值及zui大值-zui小值
■常用厚度量測(cè)點(diǎn)可使用快速一點(diǎn)校正
■兩點(diǎn)校正正常操作
■背光顯示
■使用者可選擇 μm/mils
■自動(dòng)關(guān)機(jī)功能

http://www.gzgodee.com/product/?14837/ 

CHY-115 涂層測(cè)厚儀/膜厚計(jì) CHY115
一般規(guī)格：
顯示：31/2  位數(shù)字液晶顯示，zui大 1999 讀值。
電池電壓不足顯示：當(dāng)電池電壓低於操作電壓時(shí)，
"   "顯示。
操作環(huán)境：0°C至40°C，相對(duì)濕度<90%R.H.。
避免有強(qiáng)度磁場(chǎng)的環(huán)境。
儲(chǔ)存環(huán)境：-20°C至60°C，0 至 80%R.H. (電池移除后)。
精確度測(cè)試環(huán)境：23°C±5°C，相對(duì)濕度<75%R.H.。
自動(dòng)關(guān)機(jī)：15 秒。
尺寸：148mm(高)x105mm(寬)x42mm(厚)。

涂層測(cè)厚儀,膜厚計(jì),CHY115導(dǎo)磁非導(dǎo)磁材料
技術(shù)資料：
范圍：0 至 40.0mils (0 至 1000μm)
解析度：0.1mils/1μm
回應(yīng)時(shí)間：1 秒
精確度：
±(4位)在0至7.8mils
±(10 位)在 0 至 199μm
±(3%+4 位)在 7.9mils 至 40mils
±(3%+10 位)在 200μm 至 1000μm