IIW試塊（V-1試塊）也稱荷蘭試塊。是由焊接學(xué)會(huì)（IIW）通過(guò)，標(biāo)準(zhǔn)化組織（ISO）*使用的標(biāo)準(zhǔn)試塊。
使用要點(diǎn)：
1、利用試塊厚25mm可以測(cè)定探傷儀的動(dòng)態(tài)范圍，水平線性及調(diào)整縱波探測(cè)范圍；
2、利用Φ50圓弧和Φ1.5通孔測(cè)定斜探頭折射角及縱波直探頭的靈敏度余量。還可粗略估計(jì)直探頭的盲區(qū)大小及測(cè)定儀器與探頭組合后的穿透能力；
3、利用R100mm圓弧面測(cè)定斜探頭的入射點(diǎn)和盲區(qū)，并可校正時(shí)間軸比例和零點(diǎn)；
4、利用測(cè)距為85mm、91mm和100mm三個(gè)槽口平面可測(cè)定直探頭和縱向分辨力；
5、利用試塊的直角棱邊測(cè)定斜探頭聲速偏斜角。
IIW2試塊（V-2試塊），是由焊接學(xué)會(huì)通過(guò)的標(biāo)準(zhǔn)試塊。V-2試塊（DIN54122）與IIW試塊相比，V-2試塊的優(yōu)點(diǎn)是重量輕，便于攜帶，特別適用于現(xiàn)場(chǎng)使用。
使用要點(diǎn)：
1、利用半徑為R50mm的圓弧反射面測(cè)定斜探頭的入射點(diǎn)和靈敏度余量。
2、利用Φ5通孔的反射面，可以反駁測(cè)定斜探頭的折射角范圍為45°～65°和65°～75°;
3、利用厚度12.5mm的底面多次縱波反射，可以測(cè)定探傷儀的水平線性和垂直線性。
4、利用R25和R50兩個(gè)圓弧面，校正時(shí)間軸和零點(diǎn)。