上海冷熱溫度沖擊試驗(yàn)箱

型號(hào)：BYR系列

產(chǎn)品簡介： 上海冷熱溫度沖擊試驗(yàn)箱為待測品靜置之冷、熱交替沖擊方式,廣泛使用于電子零組件測試、半導(dǎo)體、金屬、化學(xué)、材料等測試設(shè)備 。

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一、特點(diǎn)

1、 控制系統(tǒng)具備完善的檢測裝置能自動(dòng)進(jìn)行詳細(xì)的故障顯示。報(bào)警，配置485通訊接口及運(yùn)行軟件

2、 設(shè)備工作時(shí)間累計(jì)計(jì)時(shí)器。低溫區(qū)、高溫區(qū)轉(zhuǎn)換時(shí)間小于等于15秒。溫度恢復(fù)時(shí)間小于等于5分鐘

3、 沖擊方式采用風(fēng)格切換方式,將冷、熱溫度導(dǎo)入測試區(qū)實(shí)現(xiàn)冷熱沖擊測試目的

4、 采用對(duì)臭氧系數(shù)為零的綠色環(huán)保（HFC）制冷劑R404、R23

二、冷熱溫度沖擊試驗(yàn)箱技術(shù)參數(shù)

2.1測試環(huán)境條件 環(huán)境溫度為+30℃、相對(duì)濕度≤85%、試驗(yàn)箱內(nèi)無試樣條件下
2.2.測試方法 GB/T 5170.2-1996 溫度試驗(yàn)設(shè)備
2.3.高溫室
2.3.1預(yù)熱溫度范圍 +60℃～+200℃
2.3.2升溫時(shí)間 +60℃→+200℃ ≤30min
注：升溫時(shí)間為高溫室單獨(dú)運(yùn)轉(zhuǎn)時(shí)的性能
2.4.低溫室
2.4.1預(yù)冷溫度范圍 -60℃～-0℃
2.4.2降溫時(shí)間 +20℃ → -40℃≤3 0 min
注：降溫時(shí)間為低溫室單獨(dú)運(yùn)轉(zhuǎn)時(shí)的性能

三、冷熱溫度沖擊試驗(yàn)箱試樣限制：

本試驗(yàn)設(shè)備禁止：
易燃、爆炸、易揮發(fā)性物質(zhì)試樣的試驗(yàn)及儲(chǔ)存
腐蝕性物質(zhì)試樣的試驗(yàn)及儲(chǔ)存
生物試樣的試驗(yàn)或儲(chǔ)存
強(qiáng)電磁發(fā)射源試樣的試驗(yàn)及儲(chǔ)存
放射性物質(zhì)試樣的試驗(yàn)及儲(chǔ)存
劇毒物質(zhì)試樣的試驗(yàn)及儲(chǔ)存
試驗(yàn)或儲(chǔ)存過程中可能產(chǎn)生劇毒物質(zhì)的試樣的試驗(yàn)及儲(chǔ)存

四、售后服務(wù)

1、免費(fèi)上門安裝調(diào)試、培訓(xùn)操作人員。

2、產(chǎn)品自交付用戶使用之日起保修一年，但下述情況除外：

需方操作失誤，出現(xiàn)人為故障和損壞；

其他不由供貨方承受的情況

包修期滿后提供有償服務(wù)

全國統(tǒng)一24小時(shí)內(nèi)答復(fù)客戶在設(shè)備使用中出現(xiàn)的問題，重大問題48小時(shí)內(nèi)到達(dá)。