KLXM-900A全自動(dòng)機(jī)制砂顆粒形貌分析儀
設(shè)備簡(jiǎn)介：
由上海勞瑞儀器設(shè)備有限公司推出的，用于測(cè)量機(jī)制砂形貌的專業(yè)分析儀器。設(shè)備具備兩種模式：自由落體和壓縮空氣分散，對(duì)10～10000微米內(nèi)的顆粒進(jìn)行粒徑分布、形貌分布等參數(shù)檢測(cè)，顆粒＜75um采用壓縮空氣進(jìn)行分散，大顆粒＞75um采用自由落體進(jìn)行分撒，測(cè)量動(dòng)態(tài)范圍寬，測(cè)量速度快，操作方便,是顆粒形貌測(cè)試領(lǐng)域的型設(shè)備。廣泛應(yīng)用于機(jī)制砂顆粒形貌分析領(lǐng)域，KLXM-900A全自動(dòng)機(jī)制砂顆粒形貌分析儀主要用于分析顆粒圓形度、長(zhǎng)徑比等顆粒形貌參數(shù)。
詳細(xì)介紹：
*的分散方式：
?自由落體分散模式：通過(guò)振動(dòng)送料器將大顆粒分散至測(cè)試區(qū)進(jìn)行圖像采集。
?空氣壓縮分散模式：通過(guò)壓縮空氣對(duì)顆粒進(jìn)行分散，高速噴射顆粒至測(cè)試區(qū)域進(jìn)行圖像采集。
?超聲波分散：采用超聲波對(duì)細(xì)顆粒和大顆粒分離開來(lái)并促使兩者分別匯集，從而能分別對(duì)大顆粒和小顆粒進(jìn)行測(cè)試。
產(chǎn)品特點(diǎn)：
?技術(shù) - 高性能CCD成像技術(shù)，高亮LED平行面光源；
?準(zhǔn)確性高 - 準(zhǔn)確性誤差＜±3%；
?簡(jiǎn)單效高 –操作簡(jiǎn)單，全自動(dòng)；
?高速分析 –顆粒分析數(shù)量>1000000個(gè)/分鐘；
?科學(xué)分散 –針對(duì)不同大小顆粒，采用不同分散方法和技術(shù)；
?軟件強(qiáng)大 –軟件功能強(qiáng)大，滿足客戶各種測(cè)試需求；
測(cè)試原理：
由循環(huán)分散系統(tǒng)和顯微攝像系統(tǒng)構(gòu)成圖像粒度與形貌分析系統(tǒng)。只要把樣品放入循環(huán)系統(tǒng)中后，系統(tǒng)將自動(dòng)循環(huán)、分散，通過(guò)的數(shù)字?jǐn)z像機(jī)將顯微鏡的顆粒圖像拍攝下來(lái)傳輸給電腦，通過(guò)的顆粒圖像處理分析軟件對(duì)圖像進(jìn)行處理分析，具有直觀、形象、準(zhǔn)確和測(cè)試范圍寬等特點(diǎn)。
設(shè)備參數(shù)：
?
| 測(cè)試范圍 | 10-10000μm |
| 誤差 | 準(zhǔn)確性<3%；重復(fù)性性<3% |
| 光學(xué)照明 | 高亮LED平行面光源 |
| 鏡頭組 | 1倍和0.3倍高清遠(yuǎn)心鏡頭 |
| 成像CCD | 芯片尺寸 1/1.8英寸，幀率 39幀/S |
| 下料方式 | 電磁振動(dòng)，數(shù)字速度可調(diào) |
| 分析顆粒數(shù)量 | >1000000個(gè)/分鐘 |
| 設(shè)備尺寸 | 600×380×290mm |
軟件功能：
任務(wù)管理機(jī)制：按照任務(wù)進(jìn)行管理，保證資料管理井井有條。
視像采集：隨時(shí)進(jìn)行視頻和圖片的采集，保留需要的視像資料。
比例尺標(biāo)定：通過(guò)比例尺標(biāo)定操作，可與實(shí)際尺寸建立關(guān)聯(lián)，從而直接在圖像上獲得實(shí)際尺寸數(shù)值。
測(cè)量：可以進(jìn)行長(zhǎng)度、圓周、多邊形、角度等多種測(cè)量操作。
圖片批處理模式：采用此模式，可邊采集邊處理，不受內(nèi)存限制，通過(guò)處理海量圖片獲得更加準(zhǔn)確的數(shù)據(jù)。
顆粒自動(dòng)處理工具集：自動(dòng)去除顆粒粘連、自動(dòng)去除雜點(diǎn)、自動(dòng)去除邊界不完整顆粒、自動(dòng)顆粒的空心區(qū)域、自動(dòng)平滑顆粒邊緣等12項(xiàng)自動(dòng)處理工具。
報(bào)告輸出：可選擇報(bào)告輸出樣式和數(shù)據(jù)種類，也可根據(jù)自己的需要定制報(bào)告模式。
結(jié)果輸出：
單個(gè)顆粒數(shù)據(jù)：面積等效直徑、周長(zhǎng)等效直徑、馬丁徑、周長(zhǎng)、投影面積、顆粒長(zhǎng)、顆粒寬、表面積估算值、體積估算值、X切線、Y切線、切線徑、球型度長(zhǎng)徑比。
統(tǒng)計(jì)平均徑：Xnl、Xns、Xnv、Xls、Xlv、Xsv等常用統(tǒng)計(jì)平均徑。
粒徑分布：顆粒粒徑的分布圖表。
球形度分布：顆粒球形度分布的圖表。
長(zhǎng)徑比分布：顆粒長(zhǎng)徑比分布的圖表。
圓度分布：顆粒圓度分布的圖表。
分布類型：按數(shù)量分布、按體積分布、按面積分布、按長(zhǎng)度分布等。
等效直徑類型：面積等效粒徑、周長(zhǎng)等效粒徑、馬丁徑、針狀顆粒等效粒徑。
個(gè)數(shù)統(tǒng)計(jì)：如測(cè)試的樣品為顆粒樣品，可獲得樣品中顆粒的數(shù)量。
自定義表頭：自定義表頭顯示的LOGO以及測(cè)試人員等報(bào)告信息。
原始圖片/縮略圖：可以將帶有測(cè)量數(shù)據(jù)信息的圖片保存，便于發(fā)表論文等。
訂貨編號(hào)：LR-200593
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