美國LEE L170/L180/L200/L360/L500涂鍍層測(cè)厚儀使用操作手冊(cè)簡(jiǎn)要故障排除
1開機(jī): 按一次開機(jī),顯示:READY! (儀器準(zhǔn)備好) 可以測(cè)量了。(自動(dòng)關(guān)機(jī),長期不用請(qǐng)取出電池,防止內(nèi)部耗電,電池漏液)
2測(cè)量:在校準(zhǔn)板上(或鐵基工件上),力度適中、快捷、干脆的把測(cè)量頭按在被測(cè)面上。保持正確測(cè)量手法:測(cè)量的時(shí)候要讓測(cè)頭平面緊密地與被測(cè)工件面*垂直接觸。如果有縫隙,就會(huì)有測(cè)量誤差出現(xiàn),少則1微米到幾微米,多則十幾微米甚至上百微米,這就是所謂的誤操作!
測(cè)量屏幕顯示:Fe R
- X um
Fe 表示 鐵基體(磁性基體)
R 表示 讀值的意思, read的簡(jiǎn)寫,R 出現(xiàn)后才能進(jìn)行下一次的測(cè)量。
- 表示負(fù)值,如果不顯示,表示正值 。
X 代表可能出現(xiàn)的數(shù)值,如果在木頭或有色金屬,或沒有磁性的不銹鋼,或用手觸動(dòng)測(cè)頭,或在沒有磁性的工件上測(cè)量時(shí)會(huì)出現(xiàn):INF的非鐵基提示,這種情況也可能出現(xiàn)在鐵基體工件測(cè)量時(shí)的誤操作和校準(zhǔn)失誤程序錯(cuò)亂情況下出現(xiàn)!(參考三點(diǎn)校準(zhǔn),或恢復(fù)出廠設(shè)置排除INF故障) 。
um 微米的意思。
注意:實(shí)際測(cè)量工件時(shí),多測(cè)量幾次,去掉zui大zui小值,求平均值!才是工件的真實(shí)值!
3零點(diǎn)校準(zhǔn)(底材校準(zhǔn)):連續(xù)快速的按2次按鍵,屏幕出現(xiàn): - 后,又出現(xiàn)如下英文:
BASE (基本、底材)
ZERO (零、校準(zhǔn)) 翻譯為:基本校準(zhǔn)、零點(diǎn)校準(zhǔn)、底材校準(zhǔn)都可以!
這時(shí)可以直接在隨機(jī)的鐵基上操作手法正確的測(cè)量1次,(或在被測(cè)工件的裸鐵基體上測(cè)量1次),屏幕出現(xiàn): X um,(X 代表可能出現(xiàn)的數(shù)值) 后屏幕出現(xiàn): DONE (完成、校準(zhǔn)完畢的意思),再次測(cè)量鐵基體1次應(yīng)該出現(xiàn) 0 um(出現(xiàn)-1um, 1um也可以接受) 。如果手法不正確,可能幾微米的誤差(建議:為了檢驗(yàn)零點(diǎn)校準(zhǔn)的成果,你可以連續(xù)在鐵基上測(cè)量10次,如果8次以上出現(xiàn)0um,2次出現(xiàn)誤操作值,說明零點(diǎn)校準(zhǔn)成功,順便也對(duì)自己的測(cè)量方法也是個(gè)鍛煉,排除盡可能少的誤操作。)
4三點(diǎn)校準(zhǔn)(實(shí)際要測(cè)量四點(diǎn)):
首先:連續(xù)快速的按3次按鍵,屏幕出現(xiàn): - 后,又出現(xiàn)如下英文:
USER CAL ( 用戶 清除)
BASE (基本,底材) 翻譯為:三點(diǎn)校準(zhǔn)(實(shí)際要校準(zhǔn)4點(diǎn))!
(1)先在鐵基上測(cè)量第1點(diǎn)。屏幕出現(xiàn):X um (X 為任意誤差值,INF故障時(shí)也可能為INF,如果2點(diǎn)校準(zhǔn)成功,手法正確應(yīng)該出現(xiàn)0 um ,不管出現(xiàn)什么值,都不用管。)
(2)屏幕出現(xiàn)S1,把代表S1的標(biāo)準(zhǔn)片放在鐵基體上測(cè)量第2點(diǎn),測(cè)量后屏幕顯示: X um ( X 為任意誤差值,INF故障時(shí)也可能為INF,如果2點(diǎn)校準(zhǔn)成功,手法正確應(yīng)該出現(xiàn) S1代表的標(biāo)準(zhǔn)片標(biāo)稱值,偏差1-3%,不管出現(xiàn)什么值,都不用管。)
(3)屏幕出現(xiàn)S2,把代表S2的標(biāo)準(zhǔn)片放在鐵基體上測(cè)量第3點(diǎn),測(cè)量后屏幕顯示: X um (X 為任意誤差值,INF故障時(shí)也可能為INF,如果2點(diǎn)校準(zhǔn)成功,手法正確應(yīng)該出現(xiàn) S2代表的標(biāo)準(zhǔn)片標(biāo)稱值,偏差1-3%,不管出現(xiàn)什么值,都不用管。)
(4)屏幕出現(xiàn)S3,把代表S3的標(biāo)準(zhǔn)片放在鐵基體上測(cè)量第4點(diǎn),測(cè)量后屏幕顯示: X um (X 為任意誤差值,INF故障時(shí)也可能為INF,如果阿2點(diǎn)校準(zhǔn)成功,手法正確應(yīng)該出現(xiàn) S3代表的標(biāo)準(zhǔn)片標(biāo)稱值,偏差1-3%,不管出現(xiàn)什么值,都不用管。)
zui后:屏幕出現(xiàn):DONE 校準(zhǔn)完成。(INF故障時(shí)可以消除)可以把標(biāo)準(zhǔn)片放在鐵基體上,檢驗(yàn)校準(zhǔn)結(jié)果,如果不理想可以重新校準(zhǔn)一次!
5公英制轉(zhuǎn)換:連續(xù)快速的按4次按鍵,可以在um公制和mil 英制值之間切換!
6恢復(fù)出廠設(shè)置:連續(xù)快速的按5次按鍵,可以恢復(fù)出廠設(shè)置,解決大部分儀器故障!恢復(fù)儀器出廠線形誤差設(shè)置!
該說明書僅適用美國LEE L170/L180/L200/L360/L500/L200涂鍍層測(cè)厚儀老版本機(jī)型。
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