一、GB/T2423 有以下51個(gè)標(biāo)準(zhǔn)組成：
1 GB/T 2423.1-2001 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分: 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A: 低溫

2 GB/T 2423.2-2001 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分: 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B: 高溫

3 GB/T 2423.3-1993 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Ca:恒定濕熱試驗(yàn)方法

4 GB/T 2423.4-1993 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Db: 交變濕熱試驗(yàn)方法

5 GB/T 2423.5-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第二部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ea和導(dǎo)則: 沖擊

6 GB/T 2423.6-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第二部分: 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Eb和導(dǎo)則： 碰撞

7 GB/T 2423.7-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第二部分: 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ec和導(dǎo)則: 傾跌與翻倒 (主要用于設(shè)備型樣品)

8 GB/T 2423.8-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第二部分: 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ed: 自由跌落

9 GB/T 2423.9-2001 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分: 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cb: 設(shè)備用恒定濕熱

10 GB/T 2423.10-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第二部分: 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fc和導(dǎo)則: 振動(dòng)(正弦)

11 GB/T 2423.11-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分: 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fd: 寬頻帶隨機(jī)振動(dòng)--一般要求

12 GB/T 2423.12-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分: 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fda: 寬頻帶隨機(jī)振動(dòng)--高再現(xiàn)性

13 GB/T 2423.13-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分: 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fdb: 寬頻帶隨機(jī)振動(dòng) 中再現(xiàn)性

14 GB/T 2423.14-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分: 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fdc: 寬頻帶隨機(jī)振動(dòng) 低再現(xiàn)性

15 GB/T 2423.15-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第二部分: 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ga和導(dǎo)則: 穩(wěn)態(tài)加速度

16 GB/T 2423.16-1999 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分: 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)J和導(dǎo)則: 長(zhǎng)霉

17 GB/T 2423.17-1993 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Ka: 鹽霧試驗(yàn)方法

18 GB/T 2423.18-2000 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第二部分: 試驗(yàn)--試驗(yàn)Kb:鹽霧, 交變(氯化鈉溶液)

19 GB/T 2423.19-1981 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Kc: 接觸點(diǎn)和連接件的二氧化硫試驗(yàn)方法

20 GB/T 2423.20-1981 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Kd: 接觸點(diǎn)和連接件的硫化氫試驗(yàn)方法

21 GB/T 2423.21-1991 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn) M: 低氣壓試驗(yàn)方法

22 GB/T 2423.22-2002 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分: 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N: 溫度變化

23 GB/T 2423.23-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 試驗(yàn)Q:密封

24 GB/T 2423.24-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第二部分: 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Sa: 模擬地面上的太陽(yáng)輻射

25 GB/T 2423.25-1992 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Z/AM: 低溫／低氣壓綜合試驗(yàn)

26 GB/T 2423.26-1992 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Z/BM: 高溫／低氣壓綜合試驗(yàn)

27 GB/T 2423.27-1981 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Z/AMD:低溫/ 低氣壓 /濕熱連續(xù)綜合試驗(yàn)方法

28 GB/T 2423.28-1982 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)T:錫焊試驗(yàn)方法

29 GB/T 2423.29-1999 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分: 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)U:引出端及整體安裝件強(qiáng)度

30 GB/T 2423.30-1999 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分: 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)XA和導(dǎo)則:在清洗劑中浸漬

31 GB/T 2423.31-1985 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 傾斜和搖擺試驗(yàn)方法

32 GB/T 2423.32-1985 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 潤(rùn)濕稱(chēng)量法可焊性試驗(yàn)方法

33 GB/T 2423.33-1989 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Kca:高濃度二氧化硫試驗(yàn)方法

34 GB/T 2423.34-1986 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Z/AD: 溫度/ 濕度組合循環(huán)試驗(yàn)方法

35 GB/T 2423.35-1986 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Z/AFc:散熱和非散熱試驗(yàn)樣品的低溫/ 振動(dòng)(正弦)綜合試驗(yàn)方法

36 GB/T 2423.36-1986 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Z/BFc:散熱和非散熱樣品的高溫/ 振動(dòng)(正弦)綜合試驗(yàn)方法

37 GB/T 2423.37-1989 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn) L: 砂塵試驗(yàn)方法

38 GB/T 2423.38-1990 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn) R: 水試驗(yàn)方法

39 GB/T 2423.39-1990 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Ee: 彈跳試驗(yàn)方法

40 GB/T 2423.40-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分: 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cx:未飽和高壓蒸汽恒定濕熱

41 GB/T 2423.41-1994 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 風(fēng)壓試驗(yàn)方法

42 GB/T 2423.42-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 低溫/低氣壓/振動(dòng)(正弦)綜合試驗(yàn)方法

43 GB/T 2423.43-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第二部分: 試驗(yàn)方法 元件、設(shè)備和其他產(chǎn)品在沖擊(Ea) 、碰撞
(Eb) 、振動(dòng)(Fc和Fb)和穩(wěn)態(tài)加速度(Ca)等動(dòng)力學(xué)試驗(yàn)中的安裝要求和導(dǎo)則

44 GB/T 2423.44-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第二部分: 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Eg: 撞擊 彈簧錘

45 GB/T 2423.45-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Z/ABDM：氣候順序

46 GB/T 2423.46-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ef：撞擊 擺錘

47 GB/T 2423.47-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分: 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fg: 聲振

48 GB/T 2423.48-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分: 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ff: 振動(dòng)--時(shí)間歷程法

49 GB/T 2423.49-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分: 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fe: 振動(dòng)--正弦拍頻法

50 GB/T 2423.50-1999 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分: 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cy:恒定濕熱主要用于元件的加速試驗(yàn)

51 GB/T 2423.51-2000 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分: 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ke: 流動(dòng)混合氣體腐蝕試驗(yàn)

二、GB2421-89 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 總則

三、GB/T2422-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 術(shù)語(yǔ)

四、GB2424
1.GB2424.1-89 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 高溫低溫試驗(yàn)導(dǎo)則

2.GB/T2424.2-93電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 濕熱試驗(yàn)導(dǎo)則

3.GB/T2424.9-90 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 長(zhǎng)霉試驗(yàn)導(dǎo)則

4.GB/T2424.10-93 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 大氣腐蝕加速試驗(yàn)的通用導(dǎo)則

5.GB/T2424.11-82 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 接觸點(diǎn)和鏈接件的二氧化硫試驗(yàn)導(dǎo)則

6.GB/T2424.12-82 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 接觸點(diǎn)和連接件的硫化氫試驗(yàn)導(dǎo)則

7.GB/T2424.13-81 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 溫度變化試驗(yàn)導(dǎo)則

8.GB/T2424.14-1995 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 第2部分 ：試驗(yàn)方法 太陽(yáng)輻射試驗(yàn)導(dǎo)則

9.GB/T2424.15-92 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 溫度/低氣壓綜合試驗(yàn)導(dǎo)則
10.GB/T2424.17-1995 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 錫焊試驗(yàn)導(dǎo)則

11.GB/T2424.18-82 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 在清洗濟(jì)中浸漬試驗(yàn)導(dǎo)則

12.GB/T2424.19-84 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 模擬儲(chǔ)存影響的環(huán)境試驗(yàn)導(dǎo)則

13.GB/T2424.20-85 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 傾斜和搖擺試驗(yàn)導(dǎo)則

14.GB/T2424.21-85電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 潤(rùn)濕稱(chēng)量法可焊性試驗(yàn)導(dǎo)則

15.GB/T2424.22-86電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 溫度（低溫、高溫）和振動(dòng)（正 玄）綜合試驗(yàn)導(dǎo)則

16.GB/T2424.23-90電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 水試驗(yàn)導(dǎo)則

17.GB/T2424.24-1995 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 溫度（低溫、高溫）/低氣壓/振動(dòng)（正玄）綜合試驗(yàn)導(dǎo)則

標(biāo)準(zhǔn)編號(hào)　　  標(biāo)　準(zhǔn)　名　稱(chēng)
________　  ________________
GB10586-89 濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB10587-89 鹽霧試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB10588-89 長(zhǎng)霉試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB10589-89 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB10590-89 低溫/低氣壓試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB10591-89 高溫/低氣壓試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB10592-89 高、低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB11158-89 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB11159-89 低氣壓試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T5170.1-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法　　總則
GB/T5170.2-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法　　溫度試驗(yàn)設(shè)備
GB/T5170.5-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法　　濕熱試驗(yàn)設(shè)備
GB/T5170.8-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法　　鹽霧試驗(yàn)設(shè)備
GB/T5170.9-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法　　太陽(yáng)輻射試驗(yàn)設(shè)備
GB/T5170.10-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法　　高低溫低氣壓試驗(yàn)設(shè)備
GB/T5170.11-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法　　 腐蝕氣體試驗(yàn)設(shè)備
GB5170.13-85 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法　　 振動(dòng)（正弦）試驗(yàn)用機(jī)械振動(dòng)臺(tái)
GB5170.14-85 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法　　振動(dòng)（正弦）試驗(yàn)用電動(dòng)振動(dòng)臺(tái)
GB5170.15-85 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法　　振　動(dòng)（正弦）試驗(yàn)用液壓振動(dòng)臺(tái)
GB5170.16-85 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法　　恒加速度試驗(yàn)用離心式試驗(yàn)機(jī)
GB5170.17-87 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法　　低溫/低氣壓/濕熱綜合順序試驗(yàn)設(shè)備
GB5170.18-87 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法　　溫度/濕度組合循環(huán)試驗(yàn)設(shè)備
GB5170.19-89 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法　　溫度/振動(dòng)（正弦）綜合試驗(yàn)設(shè)備
GB5170.20-90 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法　　水試驗(yàn)設(shè)備

GB2421-89 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程　    總則
GB/T2422-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)　　      術(shù)語(yǔ)
GB2423.1-89 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程　  試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法
GB2423.2-89 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程　  試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法
GB/T2423.3-93 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程　試驗(yàn)Ca：恒定濕熱試驗(yàn)方法
GB/T2423.4-93 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程　試驗(yàn)Db：交變濕熱試驗(yàn)方法
GB/T2423.5-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)　　    第2部分：試驗(yàn)方法　試驗(yàn)Ea和導(dǎo)則：沖擊
GB/T2423.6-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)　　    第3部分：試驗(yàn)方法　試驗(yàn)Eb和導(dǎo)則：碰撞
GB/T2423.7-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)　　    第4部分：試驗(yàn)方法　試驗(yàn)Ec和導(dǎo)則：傾跌與翻倒 （主要用于設(shè)備樣品）
GB/T2423.8-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)　　    第5部分：試驗(yàn)方法　試驗(yàn)Ed：自由跌落
GB2423.9-89 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程　      試驗(yàn)Cb：設(shè)備用恒定濕熱試驗(yàn)方法
GB/T2423.10-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)　     第2部分：試驗(yàn)方法　試驗(yàn)Fc和導(dǎo)則：振動(dòng)（正弦）
GB/T2423.11-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)　     第2部分：試驗(yàn)方法　試驗(yàn)Fd：寬頻帶隨機(jī)振動(dòng)—一般要求
GB/T2423.12-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)　     第2部分：試驗(yàn)方法　試驗(yàn)Fda：寬頻帶隨機(jī)振動(dòng)—高再現(xiàn)性
GB/T2423.13-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)　    第2部分：試驗(yàn)方法　試驗(yàn)Fdb：寬頻帶隨機(jī)振動(dòng)—中再現(xiàn)性
GB/T2423.14-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)　    第2部分：試驗(yàn)方法　試驗(yàn)Fdc：寬頻帶隨機(jī)振動(dòng)—低再現(xiàn)性
GB/T2423.15-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)　    第2部分：試驗(yàn)方法　試驗(yàn)Ga和導(dǎo)則：穩(wěn)態(tài)加速度
GB/T2423.16-1999 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)　    第2部分：試驗(yàn)方法　試驗(yàn)J和導(dǎo)則：長(zhǎng)霉
GB/T2423.17-93 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程　 試驗(yàn)Ka：鹽霧試驗(yàn)方法
GB2423.18-2000 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程　 試驗(yàn)Kb：交變鹽霧試驗(yàn)方法（氯化鈉溶液）
GB2423.19-81 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程　試驗(yàn)Kc：接觸點(diǎn)和連接件的二氧化硫試驗(yàn)方法
GB2423.20-81 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程　試驗(yàn)Kd：接觸點(diǎn)和連接件的硫化氫試驗(yàn)方法
GB2423.21-91 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程　試驗(yàn)M：低氣壓試驗(yàn)方法
GB2423.22-87 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程　試驗(yàn)N：溫度變化試驗(yàn)方法
GB/T2423.23-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)　    試驗(yàn)Q：密封
GB/T2423.24-1995 電工電了產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)　    第2部分：試驗(yàn)方法　試驗(yàn)Sa：模似地面上的太陽(yáng)輻射
GB/T2423.25-92 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程　試驗(yàn)Z/AM：低溫/低氣壓綜合試驗(yàn)
GB/T2423.26-92 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程　試驗(yàn)Z/BM：高溫/低氣壓綜合試驗(yàn)
GB2423.27-81 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程　試驗(yàn)Z/AMD：低溫/低氣壓/濕熱連續(xù)綜合試驗(yàn)方法
GB2423.28-82 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程　試驗(yàn)T：錫焊試驗(yàn)方法
GB2423.29-1999 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)　      第2部分：試驗(yàn)方法　試驗(yàn)U：引出端及整體安裝件強(qiáng)度
GB2423.30-1999 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)　      第3部分：試驗(yàn)方法　試驗(yàn)XA和導(dǎo)則：在清洗劑中浸漬
GB2423.31-85 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程　傾斜和搖擺試驗(yàn)方法
GB2423.32-85 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程　潤(rùn)濕稱(chēng)量法可焊性試驗(yàn)方法
GB2423.33-89 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程　試驗(yàn)Kca：高濃度二氧化硫試驗(yàn)方法
GB2423.34-86 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程　試驗(yàn)Z/AD：溫度/濕度組合循環(huán)試驗(yàn)方法
GB2423.35-86 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程　試驗(yàn)Z/AFc：散熱和非散熱試驗(yàn)樣品的低溫/振動(dòng)
　                                          （正弦）綜合試驗(yàn)方法
GB2423.36-86 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程　試驗(yàn)Z/BFc：散熱和非散熱樣品的高溫/振動(dòng)（正弦）
　                                          綜合試驗(yàn)方法
GB2423.37-89 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程　試驗(yàn)L：砂塵試驗(yàn)方法
GB2423.38-90 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程　試驗(yàn)R：水試驗(yàn)方法
GB2423.39-90 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程　試驗(yàn)Ee：彈跳試驗(yàn)方法
GB/T2423.40-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)　    第2部分：試驗(yàn)方法　試驗(yàn)Cx:：未飽和高壓蒸汽恒定濕熱
GB/T2423.41-94 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程　風(fēng)壓試驗(yàn)方法
GB/T2423.42-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)　    低溫/低氣壓/振動(dòng)（正弦）綜合試驗(yàn)方法
GB/T2423.43-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)　    第2部分：試驗(yàn)方法　元件、設(shè)備和其他產(chǎn)品在沖擊（Ea）、
　　                                         碰撞（Eb）、振動(dòng)（Ec和Fd）和穩(wěn)態(tài)加速度（Ga）等動(dòng)力學(xué)試驗(yàn)中的安裝要求和導(dǎo)則
GB/T2423.44-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)　    第2部分：試驗(yàn)方法　試驗(yàn)Eg：撞擊　彈簧錘
GB/T2423.45-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)　    第2部分：試驗(yàn)方法　試驗(yàn)Z/ABDM：氣候順序
GB/T2423.46-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)    　第2部分：試驗(yàn)方法　試驗(yàn)Ef：撞擊　擺錘
GB/T2423.47-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)　    第2部分：試驗(yàn)方法　試驗(yàn)Fg：聲振
GB/T2423.48-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)　    第2部分：試驗(yàn)方法　試驗(yàn)Ff：振動(dòng)—時(shí)間歷程法
GB/T2423.49-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)　    第2部分：試驗(yàn)方法　試驗(yàn)Fe：振動(dòng)—正弦拍頻法
GB2424.1-89 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 　高溫低溫試驗(yàn)導(dǎo)則
GB/T2424.2-93 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 濕熱試驗(yàn)導(dǎo)則
GB2424.9-90 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程　 長(zhǎng)霉試驗(yàn)導(dǎo)則
GB/T2424.10-93 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程　大氣腐蝕加速試驗(yàn)的通用導(dǎo)則
GB2424.11-82 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程　  接觸點(diǎn)和連接件的二氧化硫試驗(yàn)導(dǎo)則
GB2424.12-82 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程　  接觸點(diǎn)和連接件的硫化氫試驗(yàn)導(dǎo)則
GB2424.13-81 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程　  溫度變化試驗(yàn)導(dǎo)則
GB/T2424.14-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)　      第2部分：試驗(yàn)方法　太陽(yáng)輻射試驗(yàn)導(dǎo)則
GB/T2424.15-92 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程　溫度/低氣壓綜合試驗(yàn)導(dǎo)則
GB/T2424.17-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)　      錫焊試驗(yàn)導(dǎo)則
GB2424.18-82 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程　  在清洗劑中浸漬試驗(yàn)導(dǎo)則
GB2424.19-84 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程  　模擬貯存影響的環(huán)境試驗(yàn)導(dǎo)則
GB2424.20-85 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程　  傾斜和搖擺試驗(yàn)導(dǎo)則
GB2424.21-85 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程　  潤(rùn)濕稱(chēng)量法可焊性試驗(yàn)導(dǎo)則
GB2424.22-86 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程　  溫度（低溫、高溫）和振動(dòng)（正弦）綜合試驗(yàn)導(dǎo)則
GB2424.23-90 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程　  水試驗(yàn)導(dǎo)則
GB/T2424.24-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)　      溫度（低溫、高溫）/低氣壓/振動(dòng)（正弦）綜合試驗(yàn)導(dǎo)則
GB10593.1-89 電工電子產(chǎn)品環(huán)境參數(shù)測(cè)量方法　  振動(dòng)
GB10593.2-90 電工電子產(chǎn)品環(huán)境參數(shù)測(cè)量方法　  鹽霧
GB10593.3-90 電工電子產(chǎn)品環(huán)境參數(shù)測(cè)量方法　  振動(dòng)數(shù)據(jù)處理和歸納
GB11804-89 電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件術(shù)語(yǔ)
GB4796-84 電工電子產(chǎn)品環(huán)境參數(shù)分類(lèi)及其嚴(yán)酷程度分級(jí)
GB4797.1-84 電工電子產(chǎn)品自然環(huán)境條件　　　　 溫度和濕度
GB4797.2-86 電工電子產(chǎn)品自然環(huán)境條件　　　　 海拔與氣壓、水深與水壓
GB4797.3-86 電工電子產(chǎn)品自然環(huán)境條件　　　 　生物
GB4797.4-89 電工電子產(chǎn)品自然環(huán)境條件　　　　 太陽(yáng)福射與溫度
GB/T4797.5-92 電工電子產(chǎn)品自然環(huán)境條件　　　 降水和風(fēng)
GB/T4797.6-1995 電工電子產(chǎn)品自然環(huán)境條件　　 塵、沙、鹽霧
GB4798.1-86 電工電子產(chǎn)品應(yīng)用環(huán)境條件　　　 　貯存
GB/T4798.2-1996 電工電子產(chǎn)品應(yīng)用環(huán)境條件　　 運(yùn)輸
GB4798.3-90 電工電子產(chǎn)品應(yīng)用環(huán)境條件　　　　 有氣候防護(hù)場(chǎng)所固定使用
GB4798.4-90 電工電子產(chǎn)品應(yīng)用環(huán)境條件　　　　 無(wú)氣候防護(hù)場(chǎng)所固定使用
GB4798.5-87 電工電子產(chǎn)品應(yīng)用環(huán)境條件　　　　 地面車(chē)輛使用
GB/T4798.6-1996 電工電子產(chǎn)品應(yīng)用環(huán)境條件　 　船用
GB4798.7-87 電工電子產(chǎn)品應(yīng)用環(huán)境條件　　　　 攜帶和非固定使用
GB/T4798.9-1997 電工電子產(chǎn)品應(yīng)用環(huán)境條件　　 產(chǎn)品內(nèi)部的微氣候
GB/T4798.10-91 電工電子產(chǎn)品應(yīng)用環(huán)境條件　　  導(dǎo)言
GB/T13952-92 移動(dòng)式平臺(tái)及海上設(shè)施用電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件參數(shù)分級(jí)
GB/T16422.1/1996 塑料實(shí)驗(yàn)室光源曝露試驗(yàn)方法　*部分　　通則
GB/T2951.1~2951.10-1997 電纜絕緣和護(hù)套料通用試驗(yàn)方法
GB/T14597-93 電工產(chǎn)品不同海拔的氣候環(huán)境條件
GB11606.1~11606.17-89 分析儀器環(huán)境試驗(yàn)方法
GB12085.1~12085.14-89 光學(xué)和光學(xué)儀器　　環(huán)境試驗(yàn)方法
GB6999-86 環(huán)境試驗(yàn)用相對(duì)濕度查算表
GB/T6031-1998 硫化橡膠或熱塑性橡膠硬度的測(cè)定
GB/T17782-1999 硫化橡膠壓力空氣熱老化試驗(yàn)方法
GB9868-88 橡膠獲得高于或低于常溫試驗(yàn)溫度通則
GB/T12831-91 硫化橡膠人工氣候（氙燈）老化試驗(yàn)方法
GB/T12584-90 橡膠或塑料涂覆織物低溫沖擊試驗(yàn)
GB/T14710-93 醫(yī)用電氣設(shè)備環(huán)境要求及試驗(yàn)方法
GB14048.3-93 低壓開(kāi)關(guān)設(shè)備和控制設(shè)備低壓開(kāi)關(guān)　隔離器　　隔離開(kāi)關(guān)及熔斷器組合器
GB8747-87 氣象用玻璃液體溫度表
GB/T7020-86 中空玻璃測(cè)試方法
GB3100~3102-93 量和單位
GB3836.1-2000 爆作性氣體環(huán)境用電設(shè)備　　第1部分：通用要求
GB3836.2-2000 爆作性氣體環(huán)境用電設(shè)備　　第2部分：隔爆型"d"
GB11605-89 濕度測(cè)量方法
GB/T4857.7-92 包裝、運(yùn)輸包裝件　正弦頻振動(dòng)試驗(yàn)方法
GB/T4857.9-92 包裝、運(yùn)輸包裝件噴淋試驗(yàn)方法
GB/T4857.3-92 包裝運(yùn)輸包裝件靜載荷堆碼試驗(yàn)方法
GB/T5398-1999 大型運(yùn)輸包裝件試驗(yàn)方法
GB/T4857.5~4857.6-92 包裝、運(yùn)輸包裝件　　跌落試驗(yàn)方法　　滾動(dòng)試驗(yàn)方法
GB/T4857.2-92 包裝、運(yùn)輸包裝件溫濕度調(diào)節(jié)處理
GB/T19000.2-1994 質(zhì)量管理和保證標(biāo)準(zhǔn)　第二部分：GB／T19001，19002，19003
GB/T19004.2-1994 質(zhì)量管理和質(zhì)量體系表　第2部分：服務(wù)指南
GB/T19003-1994 質(zhì)量體系：zui終檢驗(yàn)和試驗(yàn)的質(zhì)量保證模式
GB/T19004.3 第三部分：流程性材料指南
GB/T19004.4-1994 質(zhì)量管理和質(zhì)量體系要素　第四部分：質(zhì)量改進(jìn)指南
GB/T15497-1995 企業(yè)標(biāo)準(zhǔn)體系　技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)體系的構(gòu)成和要求
GB/T15498-1995 企業(yè)標(biāo)準(zhǔn)體系　管理標(biāo)準(zhǔn)工作標(biāo)準(zhǔn)體系的構(gòu)成和要求
GB/T1.1-2000 標(biāo)準(zhǔn)化工作導(dǎo)則　　第1部分：標(biāo)準(zhǔn)的結(jié)構(gòu)和編寫(xiě)規(guī)則
GB/T13017-1995 企業(yè)標(biāo)準(zhǔn)表編制指南
GB/T13264-91 不合格品率的小批計(jì)數(shù)抽樣檢查程序及抽樣表
　 　
GJB150.1-86 軍用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法　　    總則
GJB150.2-86 軍用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法　　　低氣壓（高度）試驗(yàn)
GJB150.3-86 軍用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法　　　高溫試驗(yàn)
GJB150.4-86 軍用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法　　　低溫試驗(yàn)
GJB150.5-86 軍用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法　　　溫度沖擊試驗(yàn)
GJB150.6-86 軍用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法　　　溫度—高度試驗(yàn)
GJB150.7-86 軍用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法　　　太陽(yáng)輻射試驗(yàn)
GJB150.8-86 軍用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法　　　淋雨試驗(yàn)
GJB150.9-86 軍用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法　　　濕熱試驗(yàn)
GJB150.10-86 軍用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法　　 霉菌試驗(yàn)
GJB150.11-86 軍用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法　　 鹽霧試驗(yàn)
GJB150.12-86 軍用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法　　  砂塵試驗(yàn)
GJB150.13-86 軍用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法　　 爆炸性大氣試驗(yàn)
GJB150.14-86 軍用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法　　  浸漬試驗(yàn)
GJB150.15-86 軍用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法　　 加速度試驗(yàn)
GJB150.16-86 軍用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法　　 振動(dòng)試驗(yàn)
GJB150.17-86 軍用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法　　 噪聲試驗(yàn)
GJB150.18-86 軍用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法　　 沖擊試驗(yàn)
GJB150.19-86 軍用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法　　 溫度—濕度—高度試驗(yàn)
GJB150.20-86 軍用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法　　  飛機(jī)炮振試驗(yàn)

GJB150.21-87 軍用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法

GJB150.22-87 軍用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法
GJB150.23-91 軍用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法      傾斜和搖擺試驗(yàn)