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IC卡芯片三輪測(cè)試儀

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更新時(shí)間：2018-02-06 15:40:48瀏覽次數(shù)：610次

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  IC卡三輪測(cè)試儀

電子標(biāo)簽測(cè)試儀

電子標(biāo)簽彎曲扭曲性能綜合測(cè)試裝置

IC卡三輪測(cè)試儀

IC卡動(dòng)態(tài)彎扭試驗(yàn)機(jī)

IC卡彎扭檢測(cè)儀

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  優(yōu)鴻

優(yōu)鴻測(cè)控技術(shù)（上海）有限公司

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

適用于對(duì)識(shí)別卡、帶觸點(diǎn)的集成電路卡進(jìn)行三輪往復(fù)循環(huán)測(cè)試

詳細(xì)介紹

IC卡芯片三輪測(cè)試儀、IC卡芯片三輪測(cè)試儀價(jià)格、生產(chǎn)廠(chǎng)家

一、介紹：

三輪測(cè)試儀根據(jù)Master 卡CQM項(xiàng)目對(duì)卡進(jìn)行三輪測(cè)試，適用于對(duì)識(shí)別卡、帶觸點(diǎn)的集成電路卡進(jìn)行三輪往復(fù)循環(huán)測(cè)試，將芯片卡放在機(jī)器測(cè)試滾輪之間，將芯片在三個(gè)鋼制滾輪間循環(huán)測(cè)試100次，芯片前方滾動(dòng)50次，芯片后方滾動(dòng)50次，循環(huán)頻率為0.5Hz，并在芯片上加一個(gè)8N的力，經(jīng)過(guò)往復(fù)循環(huán)測(cè)試后驗(yàn)證ICC觸點(diǎn)芯片功能是否正常。測(cè)試儀配有額外的一個(gè)15N砝碼用于進(jìn)行CQM標(biāo)準(zhǔn)*的測(cè)試。

二、主要技術(shù)參數(shù)：

1.型號(hào)：UHICC

2.測(cè)試輪循環(huán)次數(shù)：前后循環(huán)各50次

3.測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)參考: Mcd

4.CQM測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)參考: P-22

5.測(cè)試方法參考: 10.3.22

6.CQM: 6.1.11-12.1.5.2 -16.1.18.2

7.電源: 110-220 V 50/60 Hz.

8.執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 17554. 3-2006

關(guān)鍵詞：芯片