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電阻率方塊電阻測試儀

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電阻率方塊電阻測試儀 型號:KDB-1

本方阻測試新產品為薄膜測試提供機械、電氣兩方面的保護,在寬廣的量程范圍內,使各種電子薄膜能得到準確、無損的方塊電阻測量結果。 
由于新型薄膜材料種類繁多,研制過程中樣品性能變化較大,而且各種薄膜的機械強度,允許承受的電壓、電流均不相同,因此KDB-1型測試儀可為用戶量身定制各種特定探針壓力及曲率半徑的探針頭,儀器的測試電流分7檔,可由0.4μA增加到大為1000mA,測試電壓可由8V增加到80V,測試電壓和測試電流均可連續(xù)調節(jié),給薄膜、涂層的研制者提供了一個摸索測試條件的寬闊空間。 
由于儀器設有恒流源開關,并且所有電流檔在探針與樣品接觸后均有電流延時接通的功能,充分保護了樣品表面不會因為探針接觸時產生的電火花而受到損壞。 
儀器性能 
方阻測量范圍:1×10-5~2×106Ω/□,小分辨率1×10-5Ω/□; 
電阻率測量范圍:1×10-6~2×105Ω·cm或1×10-8~2×103Ω·m,小分辨率1×10-6Ω·cm或1×10-8Ω·m; 
探針壓力:25g~250g; 
探針曲率半徑:25μm~450μm 
(注:探針壓力及曲率半徑可根據(jù)薄膜材料性能及用戶需求定制); 
測試電流分7檔:1μA、10μA、100μA、1mA、10 mA、100 mA、1000 mA; 
測試電壓:(1μA~10 mA檔)12~80V連續(xù)可調 
           (100mA檔)    8~36V連續(xù)可調 
          (1000mA檔)    8~15V連續(xù)可調; 
測量方式:手動或自動(配置測試軟件); 
測量對象:導電薄膜、半導體薄膜、電力電容器鋁箔、各種金屬箔、銀漿涂層、鋰電池隔膜等各種新型電子薄膜;各種半導體材料的電阻率。 

 

 

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