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高性能X射線熒光測(cè)量?jī)x，涂層測(cè)厚儀操作規(guī)程，配有的硅漂移探測(cè)器(SDD)，涂層測(cè)厚儀應(yīng)用，可快速、無損地進(jìn)行RoHS檢測(cè)、材料分析和鍍層厚度測(cè)量。
特點(diǎn)
- 高性能機(jī)型，鐵基鋁基涂層測(cè)厚儀，具有強(qiáng)大的綜合測(cè)量能力
- 配有4 個(gè)電動(dòng)調(diào)節(jié)的準(zhǔn)直器和6個(gè)電動(dòng)調(diào)節(jié)的基本慮片
- 配備高分辨率硅漂移探測(cè)器 (SDD)，非接觸式涂層測(cè)厚儀，還適用于更復(fù)雜的多元素分析
- 由下至上的測(cè)量方向，在線涂層測(cè)厚儀，可以非常簡(jiǎn)便地實(shí)現(xiàn)樣品定位
典型應(yīng)用領(lǐng)域
- 對(duì)電子和半導(dǎo)體行業(yè)中僅幾個(gè)納米的功能性鍍層進(jìn)行測(cè)量
- 對(duì)有害物質(zhì)進(jìn)行痕量分析，涂層測(cè)厚儀檢定，例如，d4涂層測(cè)厚儀，玩具中的鉛含量
- 在珠寶和手表業(yè)，qnix涂層測(cè)厚儀，以及在金屬精煉領(lǐng)域，非接觸涂層測(cè)厚儀，對(duì)合金進(jìn)行高精度的分析
- 用于高校研究和工業(yè)研發(fā)領(lǐng)域
