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福州精科儀器儀表有限公司
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更新時(shí)間:2021-07-16 10:40:20瀏覽次數(shù):358次
聯(lián)系我時(shí),請告知來自 環(huán)保在線D8*是一個(gè)真正快速變化的藝術(shù)家,可以配置為承擔(dān)單一的分析任務(wù),重點(diǎn)和專用組件,或一個(gè)功能齊全的,多用途的解決方案,能夠處理非常多樣化的分析需求和的能力
D8*是一個(gè)真正快速變化的藝術(shù)家,可以配置為承擔(dān)單一的分析任務(wù),重點(diǎn)和專用組件,或一個(gè)功能齊全的,多用途的解決方案,能夠處理非常多樣化的分析需求和的能力。
我們的DaVinci設(shè)計(jì)確保了所有這些解決方案--簡單的(重新)配置和可擴(kuò)展性--能夠準(zhǔn)確地滿足您現(xiàn)在和將來的分析需求。
多用途解決方案
D8*生態(tài)系統(tǒng)
全尺寸測角儀級粉末XRD在環(huán)境和非環(huán)境條件下
D8前進(jìn)雙子
在環(huán)境和非環(huán)境條件下,按按鈕切換為非晶態(tài)和多晶薄膜分析的粉末X射線衍射性能。
D8預(yù)支加
在環(huán)境和非環(huán)境條件下,包括外延薄膜在內(nèi)的所有樣品都有的XRD溶液。
專用解決方案
D8推進(jìn)X射線衍射
的xrd 2解決方案可以在2 Theta和Gamma方向收集數(shù)據(jù),以提供關(guān)于晶體樣品性能的額外信息。
D8提前應(yīng)激
依靠專家的XRD解決方案,以測量應(yīng)力和織構(gòu)在機(jī)械零件,塊體和薄膜樣品。
結(jié)構(gòu)分析的D8進(jìn)展
應(yīng)用X射線粉末衍射(XRPD)提取結(jié)構(gòu)信息Rietveld(Topas)分析、擴(kuò)散或“總"散射(PDF分析)和小角度X射線散射(SAXS)。
動(dòng)態(tài)光束優(yōu)化(DBO)提供類粉末衍射數(shù)據(jù),通過在計(jì)數(shù)統(tǒng)計(jì)和峰值-背景比方面設(shè)置新的基準(zhǔn),所有這些都不需要人工儀器重新配置。
D8與DBO的進(jìn)展
基于粉末衍射數(shù)據(jù)質(zhì)量的動(dòng)態(tài)光束優(yōu)化設(shè)計(jì)
高速能量色散LYNXEE-XE-T探測器*地將快速數(shù)據(jù)采集與的熒光過濾和Kβ輻射結(jié)合在一起。它的自主可變主動(dòng)探測器窗口和機(jī)動(dòng)防散射屏(質(zhì)量)使數(shù)據(jù)采集從的第2角度,而不寄生低角度背景散射,特別是空氣散射。全自動(dòng)質(zhì)量收縮避免了光束剪切,甚至與連續(xù)可變狹縫結(jié)合在一起,提供了整個(gè)角度范圍內(nèi)的計(jì)數(shù)統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)。
· 的計(jì)數(shù)統(tǒng)計(jì)可以更快地收集數(shù)據(jù)和增加樣本吞吐量。
· 無寄生的低角度背景散射能大幅度提高制藥、粘土、沸石等大單元樣品的數(shù)據(jù)質(zhì)量。
· 的峰值到背景增強(qiáng)了小相位的靈敏度。
· *定量晶態(tài)和非晶相DIFFRAC.TOPAS
機(jī)動(dòng)防散射屏
刀邊位置自動(dòng)優(yōu)化,以實(shí)現(xiàn)限度地抑制寄生散射,同時(shí)不裁剪光束在任何角度第2。
利用DBO提高數(shù)據(jù)質(zhì)量
NISTSRM 8486(普通波特蘭熟料)沒有(藍(lán)色掃描)和機(jī)動(dòng)防散射屏幕(紅色掃描)。所有其他測量條件保持相同。
三合一
三層™光學(xué)是D8進(jìn)度表的關(guān)鍵部件,滿足了三種的X射線衍射幾何圖形在一種光學(xué)中的儀器分辨率的具體要求:
· 傳統(tǒng)粉末衍射發(fā)散光束(XRPD)
· 毛細(xì)管實(shí)驗(yàn)用高強(qiáng)度平行光束,高度不敏感測量,表面敏感掠入射幾何,涂層厚度測定(Xrr)和微衍射(μxrd)。
· 用于外延薄膜和低對稱粉末樣品高分辨衍射的純Cu-Kα1平行光束
D8*加三光學(xué)
考慮到用戶的充分方便,三光功能在三種主要光束幾何之間的機(jī)動(dòng)切換和*軟件控制的儀器對齊,而無需手動(dòng)用戶干預(yù),通過的Smart杯b。TM情報(bào)。
掠入射幾何
多晶薄膜衍射的掠入射幾何
XRR幾何
XRR測定從0.1 nm到250 nm的薄膜厚度
布拉格-布倫塔諾幾何
用于粉末衍射的布拉格-布倫塔諾幾何
HRXRD幾何
2-反射通道切割單色儀在外延樣品上提供高強(qiáng)度的高分辨率
達(dá)芬奇設(shè)計(jì)-不妥協(xié)的易用性
達(dá)芬奇設(shè)計(jì)是D8前進(jìn)作為一個(gè)*的模塊化系統(tǒng)的里程碑。從X射線管,通過光學(xué)和樣品階段一直到探測器,任何用戶--甚至是新手--都能夠從一種光束幾何學(xué)改變到另一種光束幾何形狀,或者可以毫無困難地交換單個(gè)組件。因此,我們的D8*技術(shù)為X射線衍射的任何可能應(yīng)用提供了的適應(yīng)性。
光學(xué)卡鎖變換
· 用軟件控制的Smart杯改變雙光學(xué)和三角光學(xué)的按鈕
· 鎖定開關(guān)至專用光學(xué)或不同波長
· 實(shí)時(shí)組件識(shí)別和狀態(tài)顯示
· 用于樣品安裝和定位的智能解決方案,使日常工作更容易
雙三角光學(xué)的按鍵變換
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