北京泰亞賽福為德國(guó)KD中國(guó)總代理，擁有大量庫(kù)存，以的服務(wù)為廣大用戶提供支持。

KD產(chǎn)品主要有裂紋測(cè)深、超聲波測(cè)厚、超聲波探傷、涂層測(cè)厚儀、磁粉探傷、磁粉耗材、剩磁檢測(cè)、全自動(dòng)超聲/磁粉探傷設(shè)備，廣泛應(yīng)用在航天、汽車、機(jī)械、冶金、鑄造、鍛造、石油、化工等行業(yè)。泰亞賽福將秉承德國(guó)KD的宗旨，為您提供品質(zhì)安全、可靠的無(wú)損檢測(cè)產(chǎn)品。

德國(guó)卡爾德意志（KARLDEUTSCH）檢測(cè)儀器，設(shè)備有限公司是世界zui*的無(wú)損檢測(cè)儀器設(shè)備專業(yè)生產(chǎn)廠家之一。公司技術(shù)力量雄厚、技術(shù)*、具有幾十年的開發(fā)、研制及生產(chǎn)無(wú)損檢測(cè)儀器和成套設(shè)備的歷史。其主要產(chǎn)品以性能*、可靠性強(qiáng)、自動(dòng)化程度高、操作簡(jiǎn)便、易于維護(hù)等特點(diǎn)贏得了世界范圍廣大用戶的交口稱贊。

LEPTOSKOP2042涂層測(cè)厚儀簡(jiǎn)介：

　　LEPTOSKOP2042涂層測(cè)厚儀具有精準(zhǔn)的測(cè)量技術(shù)和簡(jiǎn)單的操作方法，是*的涂層測(cè)厚儀。通過(guò)解鎖代碼，可以使儀器在現(xiàn)場(chǎng)迅速的升級(jí)。

　　LEPTOSKOP2042涂層測(cè)厚儀 利用磁感應(yīng)法(DIN EN ISO 2178)測(cè)量鐵磁基體上的非鐵磁層的厚度并且利用渦流法(DIN EN ISO 2360)測(cè)量非鐵磁材料上覆蓋的非導(dǎo)電層厚。

　　儀器將一種把測(cè)厚值顯示為模擬指針的工具和近似WINDOWS一樣的文件管理系統(tǒng)相結(jié)合，同時(shí)提供10種可供任意選擇的語(yǔ)言，以滿足客戶的各種需求。

　　LEPTOSKOP2042涂層測(cè)厚儀是一種經(jīng)濟(jì)的產(chǎn)品，電池壽命長(zhǎng)，可以連續(xù)工作100小時(shí)以上。儀器記錄工作時(shí)間和測(cè)量數(shù)量，因此一些重要的參數(shù)可以被保存。

　　彩色的橡膠皮套也是在供貨范圍內(nèi)，可以保護(hù)儀器在工業(yè)環(huán)境中意外滑落不受損害。

LEPTOSKOP2042技術(shù)參數(shù)：

　　數(shù)據(jù)傳輸接口RS232 或　USB

　　電源：電池、充電電池、USB或外接電源

　　測(cè)量范圍: 0 - 20000 um (取決于探頭)

　　測(cè)量速度:　每秒測(cè)量2個(gè)數(shù)值

　　存儲(chǔ): zui多 9999 個(gè)數(shù)值，140個(gè)文件

　　誤差:

　　涂層厚度 < 100 um: 1% 讀數(shù) +/- 1 um (校準(zhǔn)后)

　　涂層厚度 > 100 um: 1-3% 讀數(shù) +/- 1 um

　　涂層厚度 > 1000 um: 3-5% 讀數(shù) +/- 10 um

　　涂層厚度 > 10000 um: 5% 讀數(shù) +/- 100 um

LEPTOSKOP2042涂層測(cè)厚儀附件：

　　試塊和膜片

　　探頭定位裝置　(適用于微型探頭)

　　定位輔助裝置 (適用于微型探頭)

　　電腦軟件 STATWIN 2002 用于數(shù)據(jù)傳輸和對(duì)整個(gè)目錄結(jié)構(gòu)的便捷管理

　　電腦軟件 EasyExport 用于把單獨(dú)的讀數(shù)或全部文件傳輸?shù)絎indows

我們同時(shí)提供德國(guó)KD公司（德國(guó)卡爾的意志）其它系列產(chǎn)品，歡迎來(lái)電咨詢！

涂層測(cè)厚儀http://www.tayasaf.com/vs2/procat335/prolist_2354_1.html

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