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北京百川宏宇交通設(shè)施有限公司
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北京百川宏宇交通設(shè)施有限公司
產(chǎn)品型號(hào)BCD-310
品 牌其他品牌
廠商性質(zhì)生產(chǎn)商
所 在 地北京市
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更新時(shí)間：2024-08-19 16:12:05瀏覽次數(shù)：141次
聯(lián)系我時(shí)，請(qǐng)告知來(lái)自 環(huán)保在線| 產(chǎn)地 | 國(guó)產(chǎn) |
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棒材導(dǎo)電電阻測(cè)試儀本儀器配置各類(lèi)測(cè)量裝置可以測(cè)試不同材料之電導(dǎo)率。液晶顯示，無(wú)需人工計(jì)算，并帶有溫度補(bǔ)償功能，電導(dǎo)率單位自動(dòng)選擇，BCD-310 材料電導(dǎo)率測(cè)試儀自動(dòng)測(cè)量并根據(jù)測(cè)試結(jié)果自動(dòng)轉(zhuǎn)換量程，無(wú)需人工多次和重復(fù)設(shè)置。選配：配備軟件可以由電腦操控，并保存和打印數(shù)據(jù)，自動(dòng)生成圖表和報(bào)表。
棒材導(dǎo)電電阻測(cè)試儀棒材導(dǎo)電電阻測(cè)試儀
規(guī)格及型號(hào)
規(guī)格型號(hào) | 310 |
電阻 | 10-7～2×107Ω |
2.電阻率范圍 | 10-8～2×108Ω-cm |
3.電導(dǎo)率 | 5×10-8～108s/cm |
4.測(cè)試電流范圍 | 1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，1000mA |
5.測(cè)量電壓量程 | 測(cè)量電壓量程：2mV 20mV 200mV 2V 測(cè)量精度:±（0.1%讀數(shù)） 分辨率： 0.1uV 1uV 10uV 100uV |
6.電流精度 | ±0.1%讀數(shù) |
7.電阻精度 | ≤0.3% |
8.顯示讀數(shù) | 液晶顯示：電阻值、電阻率、電導(dǎo)率值、溫度、單位自動(dòng)換算、橫截面、高度、電流、電壓等 |
9.測(cè)試方式 | 四端測(cè)量法 |
10.測(cè)量裝置（治具） | 選購(gòu) 1.標(biāo)準(zhǔn)方體和圓柱體測(cè)量裝置：測(cè)試行程：L70mm*W：60mm 2.定制治具 |
11.工作電源 | AC 220V±10%.50Hz功 耗：<30WH |
12. 主機(jī)外形尺寸 | 約330mm*350mm*120mm |
13.凈重量 | 約6kgNet |
14.標(biāo)配外選購(gòu) | 1.標(biāo)準(zhǔn)校準(zhǔn)電阻1-5個(gè)；2.PC軟件一套；3.電腦和打印機(jī)依據(jù)客戶要求配置；4.計(jì)量證書(shū)1份 |
本儀器本儀器采用四探針雙電測(cè)量方法，適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門(mén)，是檢驗(yàn)和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料質(zhì)量的一種重要的工具。本儀器配置各類(lèi)測(cè)量裝置可以測(cè)試不同材料。液晶顯示，無(wú)需人工計(jì)算，并帶有溫度補(bǔ)償功能，電阻率單位自動(dòng)選擇，儀器自動(dòng)測(cè)量并根據(jù)測(cè)試結(jié)果自動(dòng)轉(zhuǎn)換量程，無(wú)需人工多次和重復(fù)設(shè)置。采用高精度AD芯片控制，恒流輸出，結(jié)構(gòu)合理、質(zhì)量輕便，運(yùn)輸安全、使用方便；選配：配備軟件可以由電腦操控，并保存和打印數(shù)據(jù)，自動(dòng)生成報(bào)表；本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時(shí)顯示液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導(dǎo)率，壓強(qiáng) 配置不同的測(cè)試治具可以滿足不同材料的測(cè)試要求。測(cè)試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測(cè)試項(xiàng)目要求選購(gòu).
雙電測(cè)數(shù)字式四探針測(cè)試儀是運(yùn)用直線或方形四探針雙位測(cè)量。
標(biāo)準(zhǔn)要求：
該儀器設(shè)計(jì)符合單晶硅物理測(cè)試方法。利用電流探針、電壓探針的變換，進(jìn)行兩次電測(cè)量，對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行雙電測(cè)分析，自動(dòng)消除樣品幾何尺寸、邊界效應(yīng)以及探針不等距和機(jī)械游移等因素對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響，它與單電測(cè)直線或方形四探針相比，大大提高精確度，特別是適用于斜置式四探針對(duì)于微區(qū)的測(cè)試。
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