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SI-FZ斐索干涉儀

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產(chǎn)品型號SI-FZ

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所在地北京市

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更新時間：2024-04-12 08:17:18瀏覽次數(shù)：117次

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北京卓立漢光儀器有限公司

經(jīng)營模式：生產(chǎn)廠家

商鋪產(chǎn)品：400條

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產(chǎn)品簡介

斐索干涉儀原理為等厚干涉,單色光束在標準平面或標準球面上,部分反射為參考光束;部分透射并通過被測件后反射回來的光束作為檢測光束。檢測光束自準返回,與參考光束重合,形成等厚干涉條紋。斐索干涉儀是檢測光學元件面形、光學鏡頭波面像差以及光學材料均勻性等參數(shù)的一種精密儀器。

詳細介紹

產(chǎn)品概述

SI-FZ斐索干涉儀

斐索干涉儀原理為等厚干涉，單色光束在標準平面或標準球面上，部分反射為參考光束；部分透射并通過被測件后反射回來的光束作為檢測光束。檢測光束自準返回，與參考光束重合，形成等厚干涉條紋。斐索干涉儀是檢測光學元件面形、光學鏡頭波面像差以及光學材料均勻性等參數(shù)的一種精密儀器。

SI-FZ斐索干涉儀實驗原理圖：