溫度沖擊試驗(yàn)箱,又稱高低溫沖擊試驗(yàn)箱、冷熱沖擊試驗(yàn)箱、冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī),適用于對(duì)電工、電子及其他產(chǎn)品、零部件及材料進(jìn)行高低溫溫度冷熱沖擊試驗(yàn)的環(huán)境試驗(yàn)箱設(shè)備,可滿足電工電子產(chǎn)品及設(shè)備等環(huán)境試驗(yàn) - 高溫試驗(yàn)/低溫試驗(yàn)/溫度變化試驗(yàn)/高低溫沖擊試驗(yàn)/溫度沖擊試驗(yàn)/冷熱沖擊試驗(yàn)。
產(chǎn)品介紹
試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)及方法
1)GB/T 10592-2008 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件;
2)GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A:低溫 (IEC 60068-2-1:2007, IDT);
3)GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B:高溫 (IEC 60068-2-2:2007, IDT);
4)GB/T 2423.22-2012 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N:溫度變化 (IEC 60068-2-14:2009, IDT);
5)GJB 150.3-86 設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法 第3部分 高溫試驗(yàn);
6)GJB/T 150.4-86 設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法 第4部分 低溫試驗(yàn);
7)GJB/T 150.5-86 設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法 第5部分 溫度沖擊試驗(yàn)。
注:支持非標(biāo)定制