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| 數(shù)字式四探針測試儀/四探針電阻率測定儀 型號：SHY-JSZT2000 | 貨號：ZH9058 |
| 產(chǎn)品簡介: 數(shù)字式四探針測試儀是根據(jù)四探針測試原理研究成功的多用途的綜合測量裝置，它可以測量棒狀、塊狀半導體材料的電阻率和半導體擴散層的薄層電阻進行測量，可以從10-6--105Ω—cm量程范圍檢測硅的片狀、棒狀材料的電阻、薄層電阻，是硅材料質量監(jiān)測的必需儀器。 儀器為臺式結構，分為電氣箱、測試架兩大部分，用戶可以根據(jù)測試需要安放在一般工作臺或者工作臺上，測試架由探頭及壓力傳動、樣品架組成，耐磨和使用壽命長的特點。探頭內設有彈簧壓力裝置，壓力從0—2Kg連續(xù)可調，測試架設有手動和電動兩種裝置供用戶選購。 儀器電氣箱主要由高靈敏的直流數(shù)字電壓表和高穩(wěn)定的恒流源組成，測量結果由數(shù)字直接顯示，儀器有自校量程，可以方便地對儀器的電氣性能進行校驗。 儀器具有測量精度高、靈敏度高、穩(wěn)定性好、測量范圍廣、結構緊湊、使用方便等特點，儀器適用于半導體材料廠、器件廠、、高等院校，對半導體材料的電阻性能測試及工藝檢測。 技術指標： 范圍：電阻率10-4—103Ω—cm，可擴展至105Ω—cm，分辯率為10-6Ω—cm方塊電阻10-3—103Ω /□ 電阻10-6—105Ω 半導體尺寸：直徑Φ15—150mm 測量方式：軸向、斷面（手動測試架） 數(shù)字電壓表 （1）量程0.2mV、2mV、20mV、200mV、2V （2）測量誤差 0.2mV檔±（0.3%讀數(shù)+8字） 2mV檔以上±（0.3%讀數(shù)+2字） （3）輸入阻抗0.2mV、2mV擋105Ω 20mV檔以上>108Ω （4）顯示3 1/2位數(shù)字顯示，0—1999 具有極性和過載自動顯示，小數(shù)點、單位自動顯示 恒流源： （1）電流輸出：直流電流0—100mA連續(xù)可調，由交流電源供給 （2）量程：10μA、100μA、1mA、10mA、100mA 五檔 （3）電流誤差：±（0.3%讀數(shù)+2字） 四探針測試探頭（1）探頭間距：1mm （2）探針機械游率：±0.3% （3） 探針：Φ0.5mm（4）壓力：可調 測試架： （1）手動測試架：探頭上升及下降由手動操作，可以用作軸向和斷面的單晶棒和硅片測試。 （2）電動測試架：探頭的上升和下降由電動操作，設有自動控制器控制，探頭上升時間1S—99S可調，探頭下降時間1S—99S可調，壓力恒定可調（由砝碼來設定）同時設有腳踏控制裝置由腳踏開關控制探頭上下運動。 電 流：220V±10% 50HZ或60HZ 功率消耗：<35W 外形尺寸：電氣箱130×110×400mm |  |
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