MOSFET-HAST測試高加速壽命老化測試系統(tǒng)

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更新時間：2024-11-25 10:16:12瀏覽次數(shù)：125次

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成都中冷低溫科技有限公司

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產(chǎn)品簡介

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MOSFET-HAST測試高加速壽命老化測試系統(tǒng)，評估系統(tǒng),絕緣電阻劣化評估系統(tǒng)是一種信賴性試驗設(shè)備，原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓，經(jīng)過長時間的測試（1～1000小時）并觀察線路是否有瞬間短路的現(xiàn)象發(fā)生，并記錄電阻值變化狀況，故又叫做CAF試驗，絕緣阻力電阻試驗，我們將其統(tǒng)稱為絕緣劣化試驗，

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MOSFET-HAST測試高加速壽命老化測試系統(tǒng)

評估系統(tǒng),絕緣電阻劣化評估系統(tǒng)是一種信賴性試驗設(shè)備，原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓，經(jīng)過長時間的測試（1～1000小時）并觀察線路是否有瞬間短路的現(xiàn)象發(fā)生，并記錄電阻值變化狀況，故又叫做CAF試驗，絕緣阻力電阻試驗，我們將其統(tǒng)稱為絕緣劣化試驗，可進行BHAST試驗。CAF（Conductive Anodic Filament，導電陽極絲）與HAST（Highly Accelerated Stress Test，高加速應(yīng)力測試）的結(jié)合。

MOSFET-HAST測試高加速壽命老化測試系統(tǒng)

特點

·高機能：采用驅(qū)動計測，測試時焊接工序大幅減少

·軟件設(shè)計簡單明了，直觀易操作

·遠程監(jiān)控功能，可監(jiān)控試驗過程。

·便利性高：構(gòu)造裝著脫落式、易進行保養(yǎng)交換?？赏瑫r試驗停止等聯(lián)動裝置功能，系統(tǒng)構(gòu)成靈活。

·測試自檢功能：點檢、校正方便。

·設(shè)計精巧，不受場所限制，易移動。

·可靠性高：配有CF卡，以防設(shè)備故障數(shù)據(jù)丟失。以UPS作為系統(tǒng)的支撐，確保試驗的安全繼續(xù)進行。

應(yīng)用：PCB、焊料、助焊劑、涂層材料等，GBA、DSP等，IC封裝、電容器、連接器等電子器件及材料絕緣材料吸濕特性測試評估。

技術(shù)規(guī)格

類型 500V *1 1000V