HAST/B-HAST高加速壽命老化測(cè)試系統(tǒng),評(píng)估系統(tǒng),絕緣電阻劣化評(píng)估系統(tǒng)是一種信賴性試驗(yàn)設(shè)備,原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓,經(jīng)過(guò)長(zhǎng)時(shí)間的測(cè)試(1~1000小時(shí))并觀察線路是否有瞬間短路的現(xiàn)象發(fā)生,并記錄電阻值變化狀況,故又叫做CAF試驗(yàn),絕緣阻力電阻試驗(yàn),我們將其統(tǒng)稱為絕緣劣化試驗(yàn),可進(jìn)行BHAST試驗(yàn)。CAF(Conductive Anodic Filament,導(dǎo)電陽(yáng)極絲)與HA
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HAST/B-HAST高加速壽命老化測(cè)試系統(tǒng)
評(píng)估系統(tǒng),絕緣電阻劣化評(píng)估系統(tǒng)是一種信賴性試驗(yàn)設(shè)備,原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓,經(jīng)過(guò)長(zhǎng)時(shí)間的測(cè)試(1~1000小時(shí))并觀察線路是否有瞬間短路的現(xiàn)象發(fā)生,并記錄電阻值變化狀況,故又叫做CAF試驗(yàn),絕緣阻力電阻試驗(yàn),我們將其統(tǒng)稱為絕緣劣化試驗(yàn),可進(jìn)行BHAST試驗(yàn)。CAF(Conductive Anodic Filament,導(dǎo)電陽(yáng)極絲)與HAST(Highly Accelerated Stress Test,高加速應(yīng)力測(cè)試)的結(jié)合。
特點(diǎn)
·高機(jī)能:采用驅(qū)動(dòng)計(jì)測(cè), 測(cè)試時(shí)焊接工序大幅減少
·軟件設(shè)計(jì)簡(jiǎn)單明了,直觀易操作
·遠(yuǎn)程監(jiān)控功能,可監(jiān)控試驗(yàn)過(guò)程。
·便利性高:構(gòu)造裝著脫落式、 易進(jìn)行保養(yǎng)交換??赏瑫r(shí)試驗(yàn)停 止等聯(lián)動(dòng)裝置功能,系統(tǒng)構(gòu)成靈活。
·測(cè)試自檢功能:點(diǎn)檢、校正方便。
·設(shè)計(jì)精巧,不受場(chǎng)所限制,易移動(dòng)。
·可靠性高:配有CF卡,以防設(shè)備故障數(shù)據(jù)丟失。以UPS作為系統(tǒng)的支撐,確保試驗(yàn)的安全繼續(xù)進(jìn)行。
應(yīng)用:PCB、焊料、助焊劑、涂層材料等,GBA、DSP等,IC封裝、電容器、連接器 等電子器件及材料絕緣材料吸濕特性測(cè)試評(píng)估。
HAST/B-HAST高加速壽命老化測(cè)試系統(tǒng)
技術(shù)規(guī)格
類型 500V *1 1000V
通道數(shù) 32通道/64通(可選)
工作時(shí)間 1~9999小時(shí)
偏置電壓 -100~+500VDC -100~+1000VDC
記性反轉(zhuǎn) 具備
共負(fù)極測(cè)試(可選) 具備
CAF測(cè)試(可選) 具備
測(cè)試電壓 1.0-99.9VDC (0.01V 步進(jìn)) 100-500VDC (0.1V 步進(jìn)) 1.0-99.9VDC (0.01V 步進(jìn)) 100-1000VDC (0.1V 步進(jìn))