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更新時(shí)間：2024-11-25 10:34:35瀏覽次數(shù)：219次
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測試時(shí)間
通常會去做130攝氏度的測試，時(shí)間比較快，測試結(jié)果也可以得到認(rèn)可。芯片測試數(shù)量為：（3個Lot，每個lot最少25顆）
帶電壓拉偏 ，遵循得原則：
（1） 所有電源上電，電壓：推薦操作范圍電壓（Maximum Recommended Operating Conditions）
（2） 芯片、材料功耗最?。〝?shù)字部分不翻轉(zhuǎn)、輸入晶振短接、其他降功耗方法）
（3） 輸入管腳在輸入電壓允許范圍內(nèi)拉高。
（4） 其他管腳，如時(shí)鐘端、復(fù)位端、輸出管腳在輸出范圍內(nèi)隨機(jī)拉高或者拉低
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