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濟(jì)南峰志CST-50沖擊試樣缺口投影儀

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更新時間：2024-09-20 11:45:10瀏覽次數(shù)：147次

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長沙沛鈺進(jìn)出口貿(mào)易有限公司

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產(chǎn)品簡介

一．產(chǎn)品簡介：CST-50沖擊試樣投影儀是我公司根據(jù)廣大用戶的實際需要和GB/T2291994《金屬夏比沖擊試驗方法》中對沖擊試樣缺口要求而開發(fā)的一種專用于檢驗夏比V型和U型缺口加工質(zhì)量的光學(xué)儀器，該儀器是利用光學(xué)投影方法將被測的沖擊試樣V型和U型缺口輪廓放大50倍后投射到投影屏上，與投影屏上的沖擊試樣V型和U型缺口標(biāo)準(zhǔn)樣板圖對比，以確定被檢測的試樣缺口是否合格

詳細(xì)介紹

一．產(chǎn)品簡介：

CST-50沖擊試樣投影儀是我公司根據(jù)廣大用戶的實際需要和GB/T229—1994《金屬夏比沖擊試驗方法》中對沖擊試樣缺口要求而開發(fā)的一種專用于檢驗夏比V型和U型缺口加工質(zhì)量的光學(xué)儀器，該儀器是利用光學(xué)投影方法將被測的沖擊試樣V型和U型缺口輪廓放大50倍后投射到投影屏上，與投影屏上的沖擊試樣V型和U型缺口標(biāo)準(zhǔn)樣板圖對比，以確定被檢測的試樣缺口是否合格。其優(yōu)點是操作簡便，對比直觀。

二．方案描述：

本投影儀光源發(fā)出的光線經(jīng)聚光鏡照射到被測物體，再以物鏡將被照射物體放大的輪廓投射到投影屏上。

根據(jù)需要，本儀器為單一投射照明，光源通過一系列光學(xué)元件投射在工作臺上，再通過一系列光學(xué)元件將被測試樣缺口輪廓清晰地投射到投影屏上。物體經(jīng)二次放大和二次反射成正像，在投影屏上所看到的圖形與實際試樣放置的方位一致。將被測度樣放在工作臺上，旋轉(zhuǎn)工作臺升降手輪，調(diào)焦至影像清晰，再調(diào)整圓工作臺和縱橫向調(diào)節(jié)手輪，使已放大了50倍的試樣V型（或U型）缺口投影圖與本儀器所提供的也放大了50倍的沖擊試樣缺口標(biāo)準(zhǔn)尺寸圖對比，即可判斷出沖擊試樣V型（或U型）缺口的幾何尺寸加工質(zhì)量。

三．主要技術(shù)參數(shù)：

1、投影屏直徑： 180mm

2、工作臺尺寸

方工作臺尺寸： 110×125mm

圓工作臺直徑： 90mm

工作臺玻璃直徑： 70mm

3、工作臺行程：

縱向： ±10mm

橫向： ±10mm

升降： ±12 mm （無刻度）

4、工作臺轉(zhuǎn)動范圍： 0～360° （無刻度）

5、儀器放大倍率： 50x