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無錫市譽一榮電子科技有限公司
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所 在 地無錫市
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更新時間：2023-08-07 17:05:51瀏覽次數(shù)：323次
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干涉測量鏡頭可用在非接觸光學壓型測量設備上，通過此鏡頭可得到表面位圖和表面測量參數(shù)等。也可用來檢測表面粗糙度，測量精度非常高，在一個波長內。一束光通過分光鏡，可將光直接射向樣品表面和內置反光鏡。
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 | 產品簡介 干涉測量鏡頭可用在非接觸光學壓型測量設備上，通過此鏡頭可得到表面位圖和表面測量參數(shù)等。也可用來檢測表面粗糙度，測量精度非常高，在一個波長內。一束光通過分光鏡，可將光直接射向樣品表面和內置反光鏡。從樣品表面反射的光線通過再結合，就產生了干涉圖案。 與Mirau鏡頭比起來，Michelson鏡頭擁有更長的工作距離，更寬的視場和更大的焦深。Mirau鏡頭用在需要高倍率和/或大數(shù)值孔徑的場合。采用Nikon 200mm鏡筒的話可將鏡頭直接裝配到C接口相機上。 |
應用范圍 用于三維表面形貌儀，表面輪廓儀，白光干涉顯微鏡等測量設備的鏡頭。 適用型號：MicroXAM系列，Newview7000系列，Newview8000系列，Wyko各型號，Contour Elite系列，ContourGT系列，Talysurf系列，SMARTWLI系列等幾乎所有的白光干涉原理非接觸式表面三維形貌測量儀。 |  |
 | 型號類別 包含多型號： 2.5xNikon干涉鏡頭 5xNikon干涉物鏡 10xNikon白光干涉鏡頭 20xNikon非接觸干涉鏡頭 50xNikon相干測量物鏡 100x尼康 CF IC Epi Plan 鏡頭 |
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