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德國Bruker X-射線熒光測厚儀

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更新時間：2024-02-25 12:37:25瀏覽次數(shù)：166次

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德國Bruker X-射線熒光測厚儀

詳細介紹

M1—Mistrial X-射線熒光鍍層測厚儀
    Mistrial系列是一款簡潔、堅固和可靠的質(zhì)量控制XRF臺式熒光系統(tǒng)，用于簡便、快速的鍍層厚度測試和材料分析。

    Mistrial可應(yīng)用于常規(guī)金屬處理、電子元器件制造和金屬測定（如珠寶鑒定）等行業(yè)，完成單層或多層厚度測量。

主要特點包括：;
?成本低、快速、非破壞的EDXRF分析
?可完成至多12層鍍層（另加底材）和25個元素的鍍層厚度測試，
?的多元素辨識，廣泛覆蓋元素表上從鈦（原子序數(shù)22號）到鈾（92號）各元素

使用廣受推崇的能量色散X射線熒光（EDXRF）技術(shù), Mistrial可實現(xiàn)如下測試要求：
?符合ISO3497標準測試方法：金屬鍍層——X射線光譜法測量鍍層厚度 
?符合ASTM B568標準測試方法：X射線光譜儀測量鍍層厚度，包括金屬和部分非金屬鍍層
?至多同時分析25種元素

如需了解詳細產(chǎn)品規(guī)格資料，煩請不吝來電！


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