GDS-80系列晶振π網(wǎng)絡(luò)分析儀
一、產(chǎn)品簡介
晶振π網(wǎng)絡(luò)分析儀GDS-80系列是高性價比的晶振測試系統(tǒng)，采用網(wǎng)絡(luò)分析技術(shù)，實現(xiàn)智能化測量，符合IEC-444標(biāo)準(zhǔn)。測量頻率范圍1MHz-100MHz，可選配RS-232接口進(jìn)行數(shù)據(jù)通迅。
晶振π網(wǎng)絡(luò)分析儀GDS-80系列采用π型網(wǎng)絡(luò)零相位法實現(xiàn)串聯(lián)諧振頻率的測量，采用直接阻抗法來測試負(fù)載諧振頻率和負(fù)載電容，它測量精度高，速度快。具有串聯(lián)諧振頻率、負(fù)載諧振頻率（PPM值）、串聯(lián)諧振電阻、負(fù)載諧振電阻、靜電容等參數(shù)測量功能，負(fù)載電容在1-100P范圍內(nèi)任意編程設(shè)置，從滿足不同負(fù)載電容的晶振測試，智能網(wǎng)絡(luò)分析技術(shù)運算克服了市場上晶振測試設(shè)備使用實體電容法測試精度差，無法測試電參數(shù)的缺點、解除了手工校對的麻煩，讓晶振測試變得更輕松。
依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)：
SJ/Z 9154.1-87 IEC 444-1(1989)《用π型網(wǎng)絡(luò)零相位法測量石英晶體元件參數(shù)部分：用π型網(wǎng)絡(luò)零相位法測量石英晶體元件諧振頻率和諧振電阻的基本方法》；
SJ/Z 9154.2-87 IEC 444-2(1980)《用π型網(wǎng)絡(luò)零相位法測量石英晶體元件參數(shù)第二部分測量石英晶體元件動態(tài)電容的相位偏置法》；
GB∕T22319.11-2018《石英晶體元件參數(shù)的測量第11部分：采用自動網(wǎng)絡(luò)分析技術(shù)和誤差校正確定負(fù)載諧振頻率和有效負(fù)載電容的標(biāo)準(zhǔn)方法》 ；
二、主要技術(shù)指標(biāo)
1. 中心頻率范圍： 1MHz-100MHz任意設(shè)定
2. 掃描范圍：±1000ppm（默認(rèn)±400ppm）
3. 負(fù)載電容：1-100P 任意設(shè)定
4. 串聯(lián)諧振頻率Fs測量范圍：±1000ppm 測量精度：±5ppm
5. 串聯(lián)諧振電阻Fr：1MHz-100MHz：1Ω-2000Ω （2±10%*R Ω）
6. 負(fù)載電容CL測量范圍：1-100PF
7. 頻率輸出偏差：±1ppm
8. 配件：
① 插件式100歐π網(wǎng)絡(luò)測試座（標(biāo)配）
② 貼片式100歐π網(wǎng)絡(luò)測試座（選配）
③ 插件式12.5歐π網(wǎng)絡(luò)測試座（選配）
④ 貼片式12.5歐π網(wǎng)絡(luò)測試座（選配）
⑤ 2520/3225/5032/7050貼片晶振適配套件（選配）
⑥ 串口通信軟件（僅GDS-80S）。
