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目錄:廣電計量檢測集團股份有限公司>>元器件篩選及失效分析>>汽車>> 汽車功率器件耐久性試驗 材料檢測服務(wù)

汽車功率器件耐久性試驗 材料檢測服務(wù)
  • 汽車功率器件耐久性試驗 材料檢測服務(wù)
參考價 面議
具體成交價以合同協(xié)議為準
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  • 品牌 廣電計量
  • 型號
  • 廠商性質(zhì) 工程商
  • 所在地 廣州市
屬性

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更新時間:2024-11-06 13:19:51瀏覽次數(shù):1411評價

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汽車功率器件耐久性試驗:功率半導體器件是新能源、軌道交通、電動汽車、工業(yè)應(yīng)用和家用電器等應(yīng)用的核心部件。特別是隨著新能源電動汽車的高速發(fā)展,功率半導體器件的市場更是爆發(fā)式的增長,區(qū)別于消費電子市場,車規(guī)級功率半導體器件由于高工作結(jié)溫、高功率密度、高開關(guān)頻率的特性,和更加惡劣的使用環(huán)境,使得器件的可靠性顯得尤為重要。

服務(wù)內(nèi)容

汽車功率器件耐久性試驗:廣電計量功率循環(huán)測試通過負載電流加熱和開關(guān)斷動作,來模擬器件工作中的結(jié)溫波動,通過一定程度的加速老化,以提前暴露器件封裝的薄弱點,評估封裝材料的熱膨脹系數(shù)差異對器件壽命的影響,是考核功率器件封裝可靠性最重要的可靠性測試,也是進行器件壽命模型建立和壽命評估的根本。

服務(wù)范圍

汽車功率器件耐久性試驗:車規(guī)級功率器件模塊及基于分立器件的等效特殊設(shè)計產(chǎn)品。

檢測標準

● DINENISO/IEC17025:General Requirements for the Competenceof Testing and Calibration Laboratories

● IEC 60747系列:Semiconductor Devices, Discrete Devices

● IEC 60749系列:Semiconductor Devices ? Mechanical and Climatic  Test Methods

● DIN EN 60664系列:Insulation Coordination for Equipment Within Low-Voltage Systems

● DIN EN 60069系列:Environmental testing

● JESD22-A119:2009:Low Temperature Storage Life

檢測項目

根據(jù)負載電流加熱的時長不同,功率循環(huán)測試分為秒級功率循環(huán)(PCsec), 分鐘級功率循環(huán)(PCmin),如電力電子模塊AQG324測試標準規(guī)定,不同的負載電流加熱時長,考察的封裝體對象也不同。如下表:

測試項目

加熱時長

考察對象

秒級功率循環(huán)(PCsec)

Ton<5s

靠近芯片附近的互連層
(chip-near interconnection)

分鐘級功率循環(huán)(PCmin)

Ton>15s

離芯片互連較遠的互連層
(chip-remote interconnection)

相關(guān)資質(zhì)

CNAS

測試周期

常規(guī)5-7個工作日

服務(wù)背景

功率循環(huán)測試被稱為考核功率器件封裝可靠性最重要的實驗,尤其是 SiC MOSFET 功率器件的快速發(fā)展,是近幾年的研究熱點。與其他可靠性測試不同的是,功率循環(huán)測試原理雖然簡單,但測試技術(shù)、測試方法和數(shù)據(jù)處理卻涉及到半導體物理、電磁學、傳熱學、結(jié)構(gòu)力學和信號分析等多學科交叉,處理不當將得到錯誤的結(jié)論。

我們的優(yōu)勢

廣電計量在Si基功率半導體模塊、SiC模塊等相關(guān)測試有著豐富的實戰(zhàn)經(jīng)驗,是SiC領(lǐng)域是國內(nèi)技術(shù)能力全面的第三方檢測機構(gòu)之一,為眾多半導體廠家提供模塊的規(guī)格書參數(shù)測試、競品分析、環(huán)境可靠性、壽命耐久和失效分析等一站式測試服務(wù)。

在功率循環(huán)測試方向,廣電計量引進多臺西門子功率循環(huán)測試機臺Power Tester1800A/1500A,同時還有部分國產(chǎn)高可靠性功率循環(huán)測試機臺,能提供水冷/水乙二醇混合冷卻/油冷等冷卻方式,并且滿足20℃~125℃的底溫要求,產(chǎn)能充足。

手法,可以協(xié)助廠家進行AQG324的認證檢測;擁有經(jīng)驗豐富的材料及電性能可靠性專家,可以針對功率半導體進行全面的失效分析及可靠性驗證方案的設(shè)計與執(zhí)行。


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