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無(wú)接觸少子壽命掃描儀

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產(chǎn)品型號(hào)HS-MWR-2S3）

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更新時(shí)間：2022-07-12 15:32:17瀏覽次數(shù)：368次

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北京合能陽(yáng)光新能源技術(shù)有限公司

經(jīng)營(yíng)模式：生產(chǎn)廠家

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所在地區(qū)：北京北京市

聯(lián)系人：鄭蘭（經(jīng)理）

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

合能陽(yáng)光無(wú)接觸少子壽命掃描儀(HS-MWR-2S3)功能強(qiáng)大，能夠?qū)尉Ч璋?、多晶硅塊及硅片提供快速、無(wú)接觸、無(wú)損傷、高分辨率的多功能掃描測(cè)試，其通過(guò)微波光電衰退特性原理來(lái)測(cè)量非平衡載流子壽命的，并且單晶硅棒、多晶硅塊無(wú)須進(jìn)行特殊處理。

詳細(xì)介紹

無(wú)接觸少子壽命掃描儀-產(chǎn)品特點(diǎn)

■ 無(wú)接觸和無(wú)損傷測(cè)量
■ 自動(dòng)測(cè)量，具有傳送系統(tǒng)，可進(jìn)行連續(xù)測(cè)量
■ 快速測(cè)量，測(cè)試掃描速度達(dá)到2000mm/min
■ 測(cè)試范圍廣：包括硅塊、硅棒、硅片等少子壽命測(cè)量
■ 主要應(yīng)用于硅棒硅塊、硅片的進(jìn)廠、出廠檢查，生產(chǎn)工藝過(guò)程中重金屬沾污和缺陷的監(jiān)控等
■ 性價(jià)比高，*程度地降低了企業(yè)的測(cè)試成本

無(wú)接觸少子壽命掃描儀-*工作條件

■ 溫度：18-26℃
■ 濕度：10%~80%
■ 大氣壓：750±30毫米汞柱

-技術(shù)指標(biāo)

■ 少子壽命測(cè)試范圍:0.5μs-300μs
■ 測(cè)試掃描速度:2000mm/min
■ 測(cè)試尺寸:215mm*215mm*400mm
■ 電阻率范圍：
P型：0.8Ω.cm-100Ω.cm（范圍之外可測(cè)量，但將有一定測(cè)試偏差）
N型：0.5Ω.cm-100Ω.cm（范圍之外可測(cè)量，但將有一定測(cè)試偏差）
■ 激光波長(zhǎng)：980±30nm,測(cè)試功率范圍：50-500mw
■ 硅棒硅塊掃描間距：≥1mm
■ 儀器測(cè)試精度：±3.5％，信號(hào)處理偏差≤2％
■ 工作頻率：10GHz±0.5
■ 微波測(cè)試單元功率：0.01W±10%
■ 電源：～220V 50Hz 功耗＜200W
■ 主機(jī)尺寸：365mm * 645mm *565mm
■ 主機(jī)重量：30KG