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ICP光譜儀光譜分析
今天ICP光譜儀小編跟您講講光譜分析，由于每種原子都有自己的特征譜線，因此可以根據(jù)光譜來鑒別物質和確定它的化學組成.這種方法叫做光譜分析.做光譜分析時，可以利用發(fā)射光譜，也可以利用吸收光譜.這種方法的優(yōu)點是非常靈敏而且迅速.某種元素在物質中的含量達10^-10(10的負10次方)克，就可以從光譜中發(fā)現(xiàn)它的特征譜線，因而能夠把它檢查出來.光譜分析在科學技術中有廣泛的應用.例如，在檢查半導體材料硅和鍺是不是達到了高純度的要求時，就要用到光
太陽光譜譜分析.在歷，光譜分析還幫助人們發(fā)現(xiàn)了許多新元素.例如，銣和銫就是從光譜中看到了以前所不知道的特征譜線而被發(fā)現(xiàn)的.光譜分析對于研究天體的化學組成也很有用.十九世紀初，在研究太陽光譜時，發(fā)現(xiàn)它的連續(xù)光譜中有許多暗線。不知道這些暗線是怎樣形成的，后來人們了解了吸收光譜的成因，才知道這是太陽內部發(fā)出的強光經過溫度比較低的太陽大氣層時產生的吸收光譜.仔細分析這些暗線，把它跟各種原子的特征譜線對照，人們就知道了太陽大氣層中含有氫、氦、氮、碳、氧、鐵、鎂、硅、鈣、鈉等幾十種元素.
ICP光譜儀儀器校準方法
ICP光譜儀是怎么校準的呢?參考一下內容：
(1) 計量校準依據(jù) 參考檢定規(guī)程JJG 768—2005《發(fā)射光譜儀》ICP光譜儀的有關內容進行。
(2) 主要性能指標的要求 按照檢定規(guī)程和儀器的說明書，在檢定周期內對分光光度計進行有關關鍵指標的檢查，以確保儀器性能正常。
(3) 檢定方法儀器開機進行基線掃描后按以下步驟檢定。
① 波長示值誤差和波長重復性 進樣5～20mg/L的Se，Zn，Mn，Cu，Ba，Na，Li,K混標溶液，以其對應的峰值位置的波長示值為測量值，從短波到長波依次重復測量3次，波長測量值的平均值與波長的標準值之差即為波長示值誤差，測量波長的值與值之差即為波長重復性。
② 光譜帶寬 進樣5mg/L的Mn標準溶液，用儀器的狹縫測量 nm的譜線，計算出譜線的半高寬即為光譜帶寬。
③ 檢出限 進樣/L的Zn，Ni，Mn，Cr，Cu，Ba系列混標溶液，制作工作曲線，連續(xù)10次測量空白溶液，以10次空白值的標準偏差的3倍所對應的濃度為檢出限。
④ 重復性 連續(xù)進樣～/L的Zn，Ni，Mn，Cr，Cu，Ba混標溶液10次，計算10次測量值的相對標準偏差(RSD)即為重復性。
⑤ 穩(wěn)定性 在不少于2h內，間隔15min以上，進樣～/L的Zn，Ni，Mn，cr，Cu，Ba混標溶液測定6次，計算6次測量值的相對標準偏差(RSD)即為穩(wěn)定性。
ICP光譜儀的使用和維護
儀器一定要有良好的使用環(huán)境
等離子體光譜與其它大型精密儀器一樣，需要在一定的環(huán)境下運行，失去這些條件，不僅儀器的使用效果不好，而且改變儀器的檢測性能，甚至造成損壞，縮短壽命。根據(jù)光學儀器的特點，ICP光譜儀對環(huán)境溫度和濕度有一定要求。如果溫度變化太大，光學元件受溫度變化的影響就會產生譜線漂移，造成測定數(shù)據(jù)不穩(wěn)定，一般室溫要求維持在70～75攝氏度間的一個固定溫度，溫度變化應小于±1攝氏度。而環(huán)境濕度過大，光學元件，特別是光柵容易受潮損壞或性能降低。電子系統(tǒng)，尤其是印刷電路板及高壓電源上的元件容易受潮燒壞。濕度對高頻發(fā)生器的影響也十分重要，濕度過大，輕則等離子體不容易點燃，重則高壓電源及高壓電路放毀元件，如功率管隔直陶瓷電容擊穿，輸出電路阻抗匹配、網絡中的可變電容放電等，以至損壞高頻發(fā)生器。一般室內濕度應小于百分之70，控制在百分之45～60之間，應有空氣凈化裝置。過去由于基建施工，我們的環(huán)境條件很差，甚至儀器室多次被水淹，受潮及室溫變化過大，儀器不是定位困難就是經常發(fā)生故障。搬到新的儀器室后條件改善了，儀器運行就正常多了。
