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深圳市云帆興燁科技有限公司
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所 在 地深圳市
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更新時間:2025-03-22 07:58:15瀏覽次數(shù):142次
聯(lián)系我時,請告知來自 環(huán)保在線簡要描述: LET-2000D系列 半導(dǎo)體動態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)擁有超寬的電壓電流測試范圍,無論是低功耗還是高功率器件都能兼容性,涵蓋了 MOSFET、IGBT 等多種主流半導(dǎo)體器件類型。同時,系統(tǒng)配備了精良的信號發(fā)生與采集模塊,可實現(xiàn)高速、穩(wěn)定的數(shù)據(jù)傳輸與處理,為用戶提供準(zhǔn)確、可靠的測試結(jié)果,為半導(dǎo)體研發(fā)生產(chǎn)提供可靠支持。
動態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)硬件優(yōu)勢:
1. 采用高分辨率的12 bit 示波器:正確反映波形的細(xì)節(jié),并準(zhǔn)確計算出參數(shù)
2. 采用先發(fā)布的光隔離、高CMRR探頭系統(tǒng),解決SIC/GAN的 測試難點
3. 高帶寬的電壓和電流探測,彌補(bǔ)一般系統(tǒng)對SIC/GAN的測量要求
4.可以滿足上/下管測試,避免頻繁連接探頭
5.電壓覆蓋范圍寬、并可以再次擴(kuò)展
6.器件驅(qū)動設(shè)計支持SIC/GAN器件
7.系統(tǒng)帶寬:>400MHz
8. 系統(tǒng)可以定制
動態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)軟件特點:
1.測量參數(shù)齊全:開關(guān)參數(shù)、短路參數(shù)、反向恢復(fù)參數(shù)
2.支持器件類型多:單管/模塊、MOSFET、IGBT、FWD、GTR …
3.測試方式:單脈沖、多脈沖
4. 離線數(shù)據(jù)分析:既可以在線測量,也可以記錄數(shù)據(jù)離線分析
5.測試UI符合工程師的使用習(xí)慣
6.測量項目及器件支持?jǐn)U展
系統(tǒng)參數(shù):
● 測量電壓:標(biāo)配2000V覆蓋650V,1200V,1700V器件的測試。 可升 級到10000V。
● 測量電流:標(biāo)配200A,覆蓋單管、及部分模塊的測量。 可升級到6000A。
● 短路電流:2000A
● 測量參數(shù):Vce/Vds,Ic/Id,Vgs/Vge,toff, td(off), tf(Ic),Eoff, Ton, td(on), tr(Ic), Eon, dI/dt, dv/dt, Err, Qrr, trr, Irr 等。
● 測量項目: 開關(guān)參數(shù)、短路參數(shù)、反向恢復(fù)參數(shù)、安全工作區(qū)等
● 測量器件:單管/模塊,MOSFET、IGBT、FWD、GTR…
● 系統(tǒng)帶寬:350MHz、500MHz、1GHz
● 測量通道:4CH
● 雙脈沖脈寬:*小20ns,150us。
● 雙脈沖數(shù):單脈沖、2-30脈沖
● 測量依據(jù)標(biāo)準(zhǔn):IEC60747-8 and IEC60747-9、 JEDEC JEP173
LET-2000D的應(yīng)用
? 功率半導(dǎo)體的來料檢驗
? 功率半導(dǎo)體的動態(tài)參數(shù)驗證
? 實驗室的器件評估
? 實驗室的驅(qū)動設(shè)計改善
? 實驗室的PCB設(shè)計評估
? 功率半導(dǎo)體的生產(chǎn)檢驗和篩選
測試項目
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