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更新時(shí)間：2024-02-02 12:00:14瀏覽次數(shù)：150次
聯(lián)系我時(shí)，請告知來自 環(huán)保在線簡要描述： Chroma 19501局部放電測試儀；Chroma 19501-K 局部放電測試器結(jié)合高電壓耐壓測試與局部放電(Partial Discharge)偵測功能于一單機(jī)
Chroma 19501局部放電測試儀
本公司7月13日11時(shí)49分報(bào)道：Chroma 19501局部放電測試儀；（/c96719/products/d.html）
主要特色：
· 單機(jī)內(nèi)建高電壓耐壓測試與PD偵測功能
· 可程式交流電壓 0.1kVac ~ 10KVac
· 高精度及高解析度電流表 0.01uA ~ 300uA
· 局部放電(PD)偵測范圍 1 pC ~ 2000 pC
· 高壓接觸檢查功能(HVCC)
· 符合IEC60747-5-5與IEC 60270-1 法規(guī)測試要求
· 內(nèi)建IEC60747-5-5 測試方法
· 三段電壓測試功能
· PD測量結(jié)果數(shù)字化顯示(pC)
· PD 不良發(fā)生判定次數(shù)設(shè)定 (1~10)
· 繁中/ 簡中 / 英文操作介面
· USB畫面擷取功能
· 圖形化輔助編輯功能
· 標(biāo)準(zhǔn)LAN, USB, RS232遠(yuǎn)端控制介面
Chroma 19501-K 局部放電測試器結(jié)合高電壓耐壓測試與局部放電(Partial Discharge)偵測功能于一單機(jī)，提供交流電壓輸出大10kV，漏電流量測范圍從0.01uA~300uA，局部放電偵測范圍小可偵測1pC放電量，針對高壓半導(dǎo)體元件及高絕緣材料測試應(yīng)用所開發(fā)。產(chǎn)品設(shè)計(jì)符合IEC 60270-1與IEC60747-5-5法規(guī)要求，同時(shí)內(nèi)建IEC 60747-5-5法規(guī)之測試方法在儀器內(nèi)部，滿足光耦合器產(chǎn)品生產(chǎn)測試需求，并提供給使用者一個(gè)便利操作介面.
在生產(chǎn)線上執(zhí)行高壓測試時(shí)，如果被測物未能正確及良好連接測試線，將導(dǎo)致測試結(jié)果失敗甚至是漏測的風(fēng)險(xiǎn)。因此，在測試確保被測物與測試線良好連接是非常重要的。 Chroma 之HVCC高壓接觸檢查功能(High Voltage Contact Check)，利用Kelvin測試方法針對高絕緣能力之元件于高壓輸出時(shí)同步進(jìn)行接觸檢查，提升其測試可靠度與效率。
相關(guān)關(guān)鍵詞：示波器，力科示波器，泰克示波器，安捷倫示波器，是德示波器，數(shù)字示波器，示波器，網(wǎng)絡(luò)分析儀，信號分析儀，信號發(fā)生器，矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀，頻譜分析儀，晶體管圖示儀，直流電源，可編程直流電源，半導(dǎo)體測試系統(tǒng)，協(xié)議分析儀，藍(lán)牙協(xié)議分析儀，以太網(wǎng)測試系統(tǒng)，邏輯分析儀，阻抗分析儀，電磁場強(qiáng)測試儀，電磁波場強(qiáng)分析儀，是德頻譜分析儀，安捷倫信號分析儀，函數(shù)發(fā)生器，任意波形發(fā)生器，矢量信號發(fā)生器，安捷倫網(wǎng)絡(luò)分析儀，半導(dǎo)體測試儀，半導(dǎo)體特性分析系統(tǒng)，功率器件分析儀，動態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)，星群模擬器系統(tǒng)，GNSS模擬器，無線通信測試儀，綜合測試儀，無線測試儀，網(wǎng)絡(luò)測試儀，USB協(xié)議分析儀，力議分析儀，SATA協(xié)議分析儀，以太網(wǎng)協(xié)議分析儀，精密阻抗分析儀，精密型LCR表，阻抗分析儀，穩(wěn)科阻抗分析儀，程控直流電源，直流電源分析儀，雙通道直流電源，數(shù)字萬用表，力科邏輯分析儀，WIFI6測試系統(tǒng)，示波器探頭，電機(jī)驅(qū)動分析儀，串行數(shù)據(jù)分析儀，磁盤驅(qū)動分析儀，安規(guī)測試儀，耐壓測試儀，耐壓測試分析儀
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