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二維面探X射線衍射儀

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

廠商：BrukerAXS型號(hào)：D8Discover到貨日期：2016年3月性能指標(biāo)：X光管類型：Cu靶、Co靶、Cr靶，功率2.2KW

詳細(xì)介紹

廠商： Bruker AXS
型號(hào)：D8 Discover
到貨日期：2016年3月

性能指標(biāo)：

X光管類型：Cu靶、Co靶、Cr靶，功率2.2KW；
角度重現(xiàn)性：±0.0001°，最小可讀步長(zhǎng)：0.0001°；
準(zhǔn)確度：測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)樣品在10~160°范圍內(nèi)角度偏差不超過(guò)±0.05°；
立式測(cè)角儀，1/4尤拉環(huán)；
探測(cè)器有效面積：≥14000mm2，探測(cè)器像素個(gè)數(shù)2048* 2048。

主要功能：

二維面探X射線衍射儀配有高精度五軸全自動(dòng)樣品臺(tái)，主要用于織構(gòu)/取向分析、微小區(qū)域分析、應(yīng)力分析和取向樣品的結(jié)晶度測(cè)量等研究領(lǐng)域。采用二維探測(cè)器XRD可直接處理二維德拜環(huán)的測(cè)量數(shù)據(jù)，解決了常規(guī)探測(cè)器微區(qū)強(qiáng)度衰減過(guò)大的問(wèn)題，具有精度高、速度快等常規(guī)一維探測(cè)器的優(yōu)點(diǎn)；纖維原位樣品臺(tái)，可測(cè)定變溫及拉伸過(guò)程中纖維/薄膜樣品結(jié)構(gòu)變化；高溫原位測(cè)試系統(tǒng)可測(cè)試薄膜/塊體材料高溫織構(gòu)和物相變化。

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