SunScan 植物冠層分析儀（標(biāo)準(zhǔn)版）通過(guò)測(cè)量作物冠層PAR值提供了關(guān) 于影響田間作物生長(zhǎng)的限制因素的有價(jià)值的信息，如葉面積指數(shù)（LAI）。SunScan探測(cè)器也可被用來(lái)描繪作物冠層PAR的分布圖

詳細(xì)介紹

SunScan 植物冠層分析儀(標(biāo)準(zhǔn)版)通過(guò)測(cè)量作物冠層PAR值提供了關(guān) 于影響田間作物生長(zhǎng)的限制因素的有價(jià)值的信息，如葉面積指數(shù)（LAI）。SunScan探測(cè)器也可被用來(lái)描繪作物冠層PAR的分布圖

原理：

根據(jù)冠層吸收的Beer法則、Wood的SunScan冠層分析方程以及Campbell的橢圓葉面角度分布方程 (Campbell’s Ellipsoidal LAD equations)，使用光量子傳感器來(lái)測(cè)量、計(jì)算和分析植物冠層截獲和穿透的光合有效輻射及葉面積指數(shù)

軟件計(jì)算

SunScan 植物冠層分析儀(標(biāo)準(zhǔn)版)主要是通過(guò)測(cè)量冠層截獲的光合有效輻射量(PAR)來(lái)計(jì)算葉面積指數(shù)（LAI），軟件中涉及到的參數(shù)有：

直射和散射入射輻射光、葉面積指數(shù)、葉片透光率、葉傾角、天頂角、穿透輻射。在這幾個(gè)參數(shù)中，天頂角是根據(jù)當(dāng)?shù)氐臅r(shí)間、經(jīng)度和緯度來(lái)計(jì)算的，葉片透光率和葉傾角是需要用戶自己估計(jì)的，其他的參數(shù)都是直接測(cè)量得出的

基本技術(shù)指標(biāo)：

SS1探測(cè)器
探測(cè)器工作區(qū)域		1000×13mm寬，傳感器間距15.6mm
探測(cè)器光譜響應(yīng)		400 ~ 700nm (PAR)
探測(cè)器測(cè)量時(shí)間		120ms
探測(cè)器分辨率		0.3μmol. m^-2.s^-1
探測(cè)器大讀數(shù)		2500μmol.m^-2.s^-1
精度		±10%
模擬輸出		1 mV per μmol. m^-2.s^-1
尺寸和重量		1300×100×130mm,1.7kg
供電		4節(jié)五號(hào)電池，約使用1年

RPDA2手持終端
屏幕		1/4VGA屏幕，太陽(yáng)光下依然顯示清晰
操作系統(tǒng)		Windows 6
顯示項(xiàng)目		LAI、PAR平均值、每個(gè)傳感器的讀數(shù)
手持終端工作環(huán)境		IP67防護(hù)等級(jí)，-30-60℃
電源		可充電電池，約使用12小時(shí)
手持終端存儲(chǔ)		支持>100M
尺寸和重量		165×95×45mm，450g